Нагибин, Ю. Т. Методы статистической обработки экспериментальных данных в оптоэлектронике. Регрессионный и корреляционный анализ [Электронный ресурс] : учебное пособие / Нагибин Ю. Т. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2011. - 53 с. - Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): дисперсия -- корреляционный анализ -- оптоэлектроника -- регрессионный анализ -- статистическая обработка -- эксперимент Аннотация: В учебном пособии изложена сущность, задачи и методика проведения регрессионного и корреляционного анализа при статистической обработке результатов экспериментальных измерений в оптоэлектронике. Описана методика проверки однородности ряда дисперсий. Рассмотрены линейная и нелинейная модели с одной независимой переменной в случае равенства и неравенства дисперсий, а также методика построения точечных и интервальных оценок коэффициентов регрессии и дисперсии. Изложена методика ортогонализации системы функций на множестве значений аргумента. Описана методика проведения корреляционного анализа для случаев нормального двумерного распределения и его отсутствия. Студентам предлагаются 20 вариантов заданий для выполнения расчетной работы. Учебное пособие предназначено для студентов 3-х – 4-х курсов инженерно-физического факультета, обучающихся по специальностям: 20020104 «Лазерная техника и лазерные технологии», 200201101 «Биомедицинская оптика», 20020107 «Оптика светового дизайна», 140400 «Техническая физика». Свободных экз. нет |