62526

    Калентьев, В. К.
    Основы промышленной радиографии [Электронный ресурс] : монография / Калентьев В. К. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2008. - 226 с. - ISBN 978-5-7882-0576-2 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
защитное средство -- изображение -- пленка -- радиография -- усиливающий экран -- фотоматериал
Аннотация: В предлагаемой книге рассмотрены физические основы радиографического метода контроля, его достоинства и недостатки, источники рентгеновского и гамма-излучений и свойства этих излучений. Даны основные определения и единицы измерений ионизирующих излучений. Большое внимание уделено радиографическим фотоматериалам: их свойствам, способам испытаний, особенностям химико-фотографической обработки. Рассмотрены критерии пригодности радиографических материалов для неразрушающего контроля и методы оценки качества радиографического изображения. Обсуждены особенности формирования и визуализации изображения в радиографии, а также факторы, определяющие качество изображения. Представлен теоретический анализ выявляемости деталей изображения и описаны экспериментальные методы её определения. Значительное внимание уделено усиливающим экранам – рассмотрены механизмы их влияния на сенситометрические показатели и чувствительность к выявляемости дефектов. Сформулированы принципы выбора источников ионизирующего излучения, усиливающих экранов, радиографических фотоматериалов, способов их химико-фотографической обработки и оценки качества изображения. Рассмотрены вопросы защиты от облучения ионизирующими излучениями. Книга предназначена для инженеров и научных работников, работающих в области радиационной дефектоскопии. Она может быть полезна также студентам вузов, аспирантам и специалистам смежных областей, занимающихся вопросами создания и совершенствования радиографических фотоматериалов, усиливающих экранов и других средств неразрушающего контроля.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Сидоров, Ю. Д.; Ли, Н. И.; Терехов, П. В.; Хабибуллин, А. С.; Исхаков, О. А.
Свободных экз. нет