Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов [Электронный ресурс] : практикум / Барабанов В. Ф. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2019. - 75 с. - ISBN 978-5-7731-0778-1 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): внутрисхемный тестер -- программа -- цифровая микросхема -- электронное устройство -- электронный компонент Аннотация: В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины, комплексы, системы и сети») при изучении дисциплин «Конструкторско-технологическое обеспечение производства ЭВМ», «Автоматизация проектирования вычислительных систем», «Электротехника и электроника». Доп.точки доступа: Барабанов, В. Ф.; Тюрин, С. В.; Гребенникова, Н. И.; Акинина, Ю. С. Свободных экз. нет |