Векилова, Г. В. Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Векилова Г. В. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2009. - 145 с. - ISBN 978-5-87623-228-1 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): дифракционный метод -- кристаллография -- кристаллохимия -- микроскопический метод -- наноматериал -- рентгеновский луч -- электронная микроскопия Аннотация: В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»). Доп.точки доступа: Иванов, А. Н.; Ягодкин, Ю. Д. Свободных экз. нет |