Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 78478 Автор(ы) : Блесман А. И., Даньшина В. В., Полонянкин Д. А. Заглавие : Теоретические основы методов исследования наноматериалов : Учебное пособие Выходные данные : Омск: Омский государственный технический университет, 2017 Колич.характеристики :78 с Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. ISBN, Цена 978-5-8149-2506-0: Б.ц. УДК : 620.2 ББК : 30.3 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифрактометрия--исследование--материаловедение--метод--микроскопия--наноматериал--рентген--электроника Аннотация: Представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов - растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие адресовано обучающимся по направлениям 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия». Доп.точки доступа: Даньшина, В. В.; Полонянкин, Д. А.