Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 20072 Автор(ы) : Анищик В. М., Понарядов В. В., Углов В. В. Заглавие : Дифракционный анализ : Учебное пособие Выходные данные : Минск: Вышэйшая школа, 2011 Колич.характеристики :215 с Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. ISBN, Цена 978-985-06-1834-4: Б.ц. УДК : 539.26 ББК : 22.344 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифракционный анализ--радиационное материаловедение--рентгеновский луч--рентгенотехника--структурный анализ Аннотация: Рассмотрены основные положения физики рентгеновских лучей, рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического применения для исследования кристаллов. Для студентов, специализирующихся в области физики и химии конденсированного состояния, металлофизики и радиационного материаловедения. Может быть полезно аспирантам, инженерам и исследователям. Доп.точки доступа: Понарядов, В. В.; Углов, В. В. |