Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 94347 Автор(ы) : Моргунов Р. Б., Коплак О. В., Безверхний А. И., Дмитриев О. С. Заглавие : Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии : Монография Выходные данные : Тамбов: Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2018 Колич.характеристики :186 с Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. ISBN, Цена 978-5-8265-1881-6: Б.ц. УДК : 537.6 ББК : 22.334 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): атомно-силовая микроскопия--зондовый микроскоп--калибровочная решётка--магнетизм--магнитно-силовая микроскопия--магнитный кантилевер--метод биттера--острие иглы--сканируюший микроскоп--стенка блоха Аннотация: Изложены современные представления об исследовании поверхности твёрдых тел и органических объектов методом зондовой микроскопии. Рассмотрен принцип работы атомно-силовой микроскопии в различных режимах сканирования. Представлены возможности использования магнитно-силовой микроскопии в исследовании доменной структуры ферромагнетиков и тонких плёнок, объектов полупроводниковой спинтроники. Представляет интерес для научных сотрудников, работающих в области физики поверхности, физики твёрдого тела и магнетизма, а также для студентов и аспирантов физических и инженерных специальностей университетов при изучении спецкурсов физики наносистем. Доп.точки доступа: Моргунов, Р. Б.; Коплак, О. В.; Безверхний, А. И.; Дмитриев, О. С.