Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 93252 Автор(ы) : Барабанов В. Ф., Тюрин С. В., Гребенникова Н. И., Акинина Ю. С. Заглавие : Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов : Практикум Выходные данные : Воронеж: Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2019 Колич.характеристики :75 с Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. ISBN, Цена 978-5-7731-0778-1: Б.ц. УДК : 68 ББК : 32.85 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): внутрисхемный тестер--программа--цифровая микросхема--электронное устройство--электронный компонент Аннотация: В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины, комплексы, системы и сети») при изучении дисциплин «Конструкторско-технологическое обеспечение производства ЭВМ», «Автоматизация проектирования вычислительных систем», «Электротехника и электроника». Доп.точки доступа: Барабанов, В. Ф.; Тюрин, С. В.; Гребенникова, Н. И.; Акинина, Ю. С.