Вид документа : Однотомное издание Шифр издания : 98165 Автор(ы) : Векилова Г. В., Иванов А. Н., Ягодкин Ю. Д. Заглавие : Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов : Учебное пособие Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2009 Колич.характеристики :145 с Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. ISBN, Цена 978-5-87623-228-1: Б.ц. УДК : 548 ББК : 30.3 Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифракционный метод--кристаллография--кристаллохимия--микроскопический метод--наноматериал--рентгеновский луч--электронная микроскопия Аннотация: В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»). Доп.точки доступа: Иванов, А. Н.; Ягодкин, Ю. Д.