Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>A=Анашина, О. Д.$<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 33401
Автор(ы) : Анашина О. Д., Анашина О. Д., Андрюшечкин С. Е., Аневский С. И., Бражников В. В., Булыгин Ф. В., Головань Л. А., Горшкова Т. Б., Гусев А. С., Демин А. В., Заботнов С. В., Золотаревский С. Ю., Золотаревский Ю. М., Иванов В. С., Ильин А. П., Качак В. В., Кашкаров П. К., Клековкин И. В., Кононогов С. В., Коршунов А. В., Крутиков В. Н., Котюк А. Ф., Лахов В. М., Левин А. Д., Левин Г. Г., Лысенко В. Г., Лясковский В. Л., Мазуренко С. Н., Минаева О. А., Минаев Р. В., Морозова С. П., Новиков Н. Ю., Окрепилов В. В., Панкина Г. В., Панов В. И., Рукин Е. М., Савченко А. Г., Саприцкий В. И., Тодуа П. А., Толбанова Л. О., Федянин А. А., Хлевной Б. Б., Широков С. С., Шувалов Г. В., Элькин Г. И.
Заглавие : Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии : Учебное пособие
Выходные данные : Москва: Логос, 2011
Колич.характеристики :591 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-98704-613-5: Б.ц.
УДК : 006
ББК : 30.10
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): метрологическое обеспечение--метрология--наноиндустрия--нанотехнология
Аннотация: Освещаются методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов. Рассмотрены меры по обеспечению единства измерений в Российской Федерации, ведущие тенденции развития нанотехнологий за рубежом и в России, обосновано формирование инфраструктуры центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологии и продукции наноиндустрии. Описаны методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии. Раскрыты прикладные вопросы метрологического обеспечения реализованных проектов в отдельных областях наноиндустрии в рамках Федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008–2011 годы». Для специалистов центров стандартизации и метрологии, метрологических служб предприятий, поверителей, сотрудников санитарно-эпидемиологической службы, проходящих переподготовку и приобретающих дополнительную квалификацию в Академии стандартизации, метрологии и сертификации Росстандарта. Будет полезна студентам вузов, получающим образование в области нанотехнологии и нанометрологии.
(для доступа требуется авторизация)

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 02.07.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)