Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Величко, А. А.$<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.

Величко А. А. Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II:Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II/Величко А. А.. - 2014
2.

Величко А. А. Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии/Величко А. А.. - 2012
3.

Филимонова Н. И. Методы электронной микроскопии/Филимонова Н. И.. - 2016
4.

Филимонова Н. И. Методы электронной спектроскопии/Филимонова Н. И.. - 2016
 
Статистика
за 03.07.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)