Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=атомно-силовая микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 68197
Автор(ы) : Парфенов П. С., Парфенов П. С., Литвин А. П., Ушакова Е. В., Баранов А. В.
Заглавие : Техника физического эксперимента : Лабораторный практикум
Выходные данные : Санкт-Петербург: Университет ИТМО, 2015
Колич.характеристики :91 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 535
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): атомно-силовая микроскопия--дифракционный монохроматор--измерение мощности--инфракрасная спектроскопия--наноструктура--операционный усилитель--оптический сигнал--техника эксперимента--физический эксперимент--электрический сигнал
Аннотация: Лабораторный практикум предназначен для бакалавров четвертого курса факультета фотоники и оптоинформатики, обучающихся по программам «Оптика наноструктур» и «Физика наноструктур» по направлению подготовки 12.03.03 «Фотоника и оптоинформатика» и содержит описание лабораторных работ к дисциплинам «Техника физического эксперимента» и «Приборы и методы экспериментальной физики». Практикум также может быть рекомендован студентам старших курсов физико-технических специальностей, а также магистрантам, специализирующимся в области применения оптических методов в нанотехнологии.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 68146
Автор(ы) : Федоров А. В., Федоров А. В., Баранов А. В., Литвин А. П., Черевков С. А.
Заглавие : Специальные методы измерения физических величин : Учебное пособие
Выходные данные : Санкт-Петербург: Университет ИТМО, 2014
Колич.характеристики :130 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 530
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): атомно-силовая микроскопия--изучение наноструктуры--метод измерения--нанолитография--оптическая спектроскопия--рентгеновская спектроскопия--туннельная микроскопия--физическая величина--экспериментальный метод--электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассматриваются современные экспериментальные методы изучения наноструктур, включая электронную и атомно-силовую микроскопию, рентгеновскую спектроскопию, а также стационарную и нестационарную оптическую спектроскопию. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200700 «Фотоника и оптоинформатика» в рамках Магистерской программы 200700.68 «Физика наноструктур» для изучения дисциплины «Специальные методы измерения физических величин». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей, а также при подготовке магистров и аспирантов, специализирующихся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 68194
Автор(ы) : Баранов А. В., Баранов А. В., Виноградова Г. Н., Воронин Ю. М., Ермолаева Г. М., Парфенов П. С., Шилов В. Б.
Заглавие : Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью : Учебное пособие
Выходные данные : Санкт-Петербург: Университет ИТМО, 2009
Колич.характеристики :191 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 535
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): атомно-силовая микроскопия--кривая шапиро--лазерная техника--лазерный импульс--люминесцентная микроскопия--оптическая микроскопия--пониженная размерность--техника эксперимента--физический эксперимент--электронная микроскопия
Аннотация: Рассматриваются методы и техника исследования и диагностики наноразмерных объектов, включая электронную, атомно-силовую микроскопию, различные варианты люминесцентной микроскопии и техники КР, ближнепольную оптическую микроскопию, а также лазерную технику, используемую в физических экспериментах. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200600 Фотоника и оптоинформатика для изучения дисциплины «Оптика наноструктур». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей, а также при подготовке магистров и аспирантов, специализирующихся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 68195
Автор(ы) : Баранов А. В., Баранов А. В., Литвин А. П., Парфенов П. С., Ушакова Е. В.
Заглавие : Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2: Лабораторный практикум: Лабораторный практикум. Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2
Выходные данные : : Университет ИТМО: Университет ИТМО Б.м., 2011
Колич.характеристики :44 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-4344-0026-8978-5-248-00585-7: Б.ц.
УДК : 535
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): техника эксперимента--физический эксперимент--пониженная размерность--спектральное измерение--параметр люминесценции--квантовая точка--инфракрасный диапазон--атомно-силовая микроскопия--инфракрасное излучение--полупроводниковая наноструктура
Аннотация: Лабораторный практикум предназначен для магистрантов второго курса факультета Фотоники и оптоинформатики, обучающихся по магистерской программе 200700.68.05 «Оптика наноструктур» по направлению подготовки 200700 «Фотоника и оптоинформатика» и содержит описание шести лабораторных работ к дисциплине «Методы и техника физического эксперимента». Практикум также может быть рекомендован студентам старших курсов физико-технических специальностей, а также магистрантам, специализирующимся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 94347
Автор(ы) : Моргунов Р. Б., Коплак О. В., Безверхний А. И., Дмитриев О. С.
Заглавие : Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии : Монография
Выходные данные : Тамбов: Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2018
Колич.характеристики :186 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-8265-1881-6: Б.ц.
УДК : 537.6
ББК : 22.334
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): атомно-силовая микроскопия--зондовый микроскоп--калибровочная решётка--магнетизм--магнитно-силовая микроскопия--магнитный кантилевер--метод биттера--острие иглы--сканируюший микроскоп--стенка блоха
Аннотация: Изложены современные представления об исследовании поверхности твёрдых тел и органических объектов методом зондовой микроскопии. Рассмотрен принцип работы атомно-силовой микроскопии в различных режимах сканирования. Представлены возможности использования магнитно-силовой микроскопии в исследовании доменной структуры ферромагнетиков и тонких плёнок, объектов полупроводниковой спинтроники. Представляет интерес для научных сотрудников, работающих в области физики поверхности, физики твёрдого тела и магнетизма, а также для студентов и аспирантов физических и инженерных специальностей университетов при изучении спецкурсов физики наносистем.
(для доступа требуется авторизация)

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 30.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)