Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=внутрисхемный тестер<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 93252
Автор(ы) : Барабанов В. Ф., Тюрин С. В., Гребенникова Н. И., Акинина Ю. С.
Заглавие : Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов : Практикум
Выходные данные : Воронеж: Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2019
Колич.характеристики :75 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7731-0778-1: Б.ц.
УДК : 68
ББК : 32.85
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): внутрисхемный тестер--программа--цифровая микросхема--электронное устройство--электронный компонент
Аннотация: В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины, комплексы, системы и сети») при изучении дисциплин «Конструкторско-технологическое обеспечение производства ЭВМ», «Автоматизация проектирования вычислительных систем», «Электротехника и электроника».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

 
Статистика
за 03.07.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)