Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=дифрактометрия<.>)

Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 78478
Автор(ы) : Блесман А. И., Даньшина В. В., Полонянкин Д. А.
Заглавие : Теоретические основы методов исследования наноматериалов : Учебное пособие
Выходные данные : Омск: Омский государственный технический университет, 2017
Колич.характеристики :78 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-8149-2506-0: Б.ц.
УДК : 620.2
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифрактометрия--исследование--материаловедение--метод--микроскопия--наноматериал--рентген--электроника
Аннотация: Представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов - растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие адресовано обучающимся по направлениям 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 68129
Автор(ы) : Золотарев В. М., Никоноров Н. В., Игнатьев А. И.
Заглавие : Современные методы исследования оптических материалов. Часть 1: Учебное пособие, курс лекций. Современные методы исследования оптических материалов. Часть 1
Выходные данные : : Университет ИТМО Б.м., 2013
Колич.характеристики :267 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7782-2377-6: Б.ц.
УДК : 67
ББК : 32.86
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): метод исследования--оптический материал--химический состав--рентгеновская спектроскопия--рентгеновская дифрактометрия--метод ионизации--фотоакустическая спектроскопия--эмиссионная спектроскопия--термогравиметрия
Аннотация: Курс лекций является первым учебно-методическим пособием по современным методам исследования оптических материалов. В нем кратко рассмотрены основы рентгеновских, оптических, спектральных и термических методов исследования оптических материалов, в том числе и наноматериалов. Дан анализ областей применения этих методов применительно к задачам, связанным с проведением исследований по разработке новых оптических материалов. Описание принципов действия методов сопровождается набором иллюстраций в формате 2D и 3D, которые позволяют представить данные, получаемые на приборах, в наглядной форме, удобной для восприятия многоплановой информации. Учебное пособие предназначено для магистров, обучающихся по направлению «Фотоника и оптоинформатика» по магистерской программе «Оптические материалы фотоники и оптоинформатики» при изучении дисциплин «Конденсированные лазерные среды», «Волноводная фотоника», «Материалы и технологии волоконной и интегральной оптики», «ИК-фотоника», «Спектроскопия и рефрактометрия», «Наноматериалы и нанотехнологии», «Стеклообразные полупроводники для фотоники», «Методы исследования материалов фотоники», «Органические оптические материалы и композиты», а также обучающихся по направлению «Оптотехника» при изучении дисциплин «Методы и приборы для научных исследований» и «Материалы лазерной оптоэлектроники».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 87446
Автор(ы) : Яловега Г. Э., Шматко В. А., Фуник А. О., Невзорова Н. М.
Заглавие : Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов: исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии : Монография
Выходные данные : Ростов-на-Дону, Таганрог: Издательство Южного федерального университета, 2017
Колич.характеристики :156 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-9275-2415-0: Б.ц.
УДК : 539.2
ББК : 30.36
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кремниевая матрица--металлооксидная наноструктура--нанокомпозит--нанокомпозитная пленка--оксид 3d-металла--рентгеновская дифрактометрия--рентгеновская спектроскопия--углеродная матрица--электронная микроскопия
Аннотация: Монография посвящена результатам исследования морфологии, структуры и физико-химических свойств нанокомпозитных материалов на основе оксидов 3d-металлов с углеродной и кремниевой матрицами. Адресована специалистам, работающим в области рентгеновской спектроскопии, материаловедения и смежных специальностей. Может быть полезна аспирантам и студентам, обучающимся по направлениям «Физика», «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Материаловедение». Результаты исследований, приведенные в монографии, были получены при поддержке гранта Южного федерального университета ВнГр-07/2017-30 и гранта Министерства образования и науки Российской Федерации №11.2432.2014/K.
(для доступа требуется авторизация)

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 29.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)