Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=исследование материалов<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 79646
Автор(ы) : Латышенко К. П.
Заглавие : Методы исследований процессов и материалов : Практикум
Выходные данные : Саратов: Вузовское образование, 2019
Колич.характеристики :197 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-4487-0400-0: Б.ц.
УДК : 543
ББК : 30.10
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): исследование материалов--исследование процессов--метрологическая характеристика--неразрушающий контроль
Аннотация: В практикуме рассматриваются физические методы неразрушающего контроля, методы и средства исследований процессов и материалов, определяются их метрологические характеристики, правила обработки результатов измерений. Предназначен студентам, изучающим курсы «Методы исследования процессов и материалов», «Технологические измерения и приборы», «Методы и средства измерений, испытаний и контроля», «Автоматизация аналитического контроля».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 12728
Автор(ы) : Кларк Э. Р., Эберхард К. Н.
Заглавие : Микроскопические методы исследования материалов : Монография
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2007
Колич.характеристики :376 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-94836-121-5: Б.ц.
УДК : 620
ББК : 30
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): исследование материалов--компьютерная микроскопия--микроскопические методы--монография
Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.
(для доступа требуется авторизация)

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 01.07.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)