Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Электронный каталог (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=кристалл<.>)
Общее количество найденных документов : 64
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
1.
IPRBooks-98052
98052

    Иванов, А. Н.
    Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений [Электронный ресурс] : учебное пособие / Иванов А. Н. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2002. - 79 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный метод -- кристаллическая структура -- материал -- реальный кристалл -- рентгеновское излучение -- субструктура
Аннотация: В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта. Описаны основные принципы статистической динамической теории рассеяния рентгеновских лучей кристаллами, содержащими дислокации и другие дефекты второго класса по классификации М.А. Кривоглаза. Пособие по специальному курсу «Дифракционные методы исследования» предназначено для студентов специальности 07090.00 и направлений 5104.03 и 5104.11, а также может быть использовано студентами и аспирантами, выполняющими НИР в области материаловедения.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Поляков, А. М.
Свободных экз. нет
Найти похожие

2.
IPRBooks-56747
56747

    Андреев, Л. А.
    Физика и химия твердого тела. Точечные дефекты в ионных кристаллах [Электронный ресурс] : методические указания / Андреев Л. А. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2003. - 82 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 24.5

Кл.слова (ненормированные):
ионный кристалл -- твердое тело -- физика -- химия
Аннотация: Настоящие указания содержат многовариантные задачи для выполнения индивидуальных домашних работ по разделу «Точечные дефекты в ионных кристаллах» курса «Физика и химия твердого состояния». Выполнение домашней работы должно развить у студентов: умение составлять символические («квазихимические») уравнения физико-химических процессов, протекающих в ионных кристаллах с участием точечных дефектов; понимание электронной природы некоторых типов центров окраски кристаллов (F-центров); навык прогнозирования влияния примесей гетеровалентных ионов на ионную электропроводность кристаллов и их присутствия в оксиде (сульфиде) на скорость роста оксидной (сульфидной) пленки на металле. Теоретические разделы должны помочь глубже понять рассматриваемые проблемы как при выполнении задания, так и при самостоятельной проработке материала по соответствующим вопросам курса. Исходные данные, используемые для составления задач, заимствованы из оригинальных работ. Предназначены для студентов специальности 070800.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Новиков, А. В.; Новикова, Е. А.; Бокштейн, Б. С. \ред.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

3.
IPRBooks-67500
67500

    Арбузов, В. И.
    Основы радиационного оптического материаловедения [Электронный ресурс] : учебное пособие / Арбузов В. И. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2008. - 286 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
кристалл -- облучение -- оптика -- радиационная окраска -- спектр -- стекло
Аннотация: В пособии изложены закономерности взаимодействия ионизирующего излучения с оптическими материалами. В нем классифицируются ионизирующие излучения и оптические материалы, описываются изменения спектров пропускания оптических стекол и кристаллов при их облучении фотонным или корпускулярным излучением, дается представление о стабильности их радиационной окраски и о способах повышения радиационно-оптической устойчивости стекол к ионизирующему излучению, приводится информация о функциональных свойствах радиационно-защитных стекол, позволяющих получать информацию об объектах в радиационных полях и предохраняющих человека от вредного действия ионизирующего излучения. Пособие предназначено для магистров, обучающихся по направлению 200600 «Фотоника и оптоинформатика» по магистерской программе «Оптические материалы фотоники и оптоинформатики» при изучении дисциплины «Фоточувствительные и радиационно-стойкие материалы».

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

4.
IPRBooks-67446
67446

    Никоноров, Н. В.
    Оптическое материаловедение. Методы исследования оптических материалов [Электронный ресурс] : учебное пособие по выполнению лабораторного практикум / Никоноров Н. В. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2008. - 158 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
кристалл -- лабораторная работа -- оптика -- отражение -- рассеивание -- спектроскопия -- физика
Аннотация: Пособие содержит описание одиннадцати лабораторных работ по курсу «Оптическое материаловедение: методы исследования оптических материалов». Лабораторные работы посвящены изучению студентами разнообразных методов и приборов для исследования свойств оптических материалов (стекол, кристаллов, полимеров). В пособии описаны методы оптической спектрофотометрии, спектроскопии комбинационного рассеяния и фурье-спектроскопии, рефрактометрические методы измерения показателя преломления, метод нарушенного полного внутреннего отражения, метод оптического астеризма, поляризационные и интерферометрические методы исследования анизотропных материалов. Эти методы применимы к чрезвычайно широкому классу неорганических (стекла кристаллы) и органических (полимеры, биоткани) материалов. Каждая лабораторная работа содержит краткий обзор необходимых теоретических сведений, порядок и условия проведения работы, контрольные вопросы для самопроверки. Учебное пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлениям «Фотоника и оптоинформатика» и «Оптотехника» при изучении дисциплин «Оптическое материаловедение», «Методы исследования оптических материалов», «Материалы и технологии волоконной и интегральной оптики».

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Асеев, В. А.; Ефимов, А. М.; Жуков, С. Н.; Золотарев, В. М.; Игнатьев, А. И.; Клементьева, А. В.; Пржевуский, А. К.; Рохмин, А. С.
Свободных экз. нет
Найти похожие

5.
IPRBooks-67441
67441

    Пржевуский, А. К.
    Оптическое материаловедение. Моделирование оптических материалов и процессов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Пржевуский А. К. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2008. - 124 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
кристалл -- материаловедение -- модель -- оптоинформатика -- фотоника
Аннотация: В пособии рассматриваются две группы статистических моделей. Первую группу составляют структурные модели неупорядоченных систем, среди которых наиболее важны стёкла и аморфные материалы фотоники. Моделируемая структура полностью определяется парным взаимодействием составляющих её частиц. Вторую группу моделей, рассматриваемых в пособии, составляют модели, симулирующие процессы трансформации возбуждений в кристалле или стекле, происходящих после поглощения кванта света и определяющие эффективность применения материалов для устройств фотоники. Учебное пособие предназначено для обучения бакалавров и магистров по направлению 200600 Фотоника и оптоинформатика для изучения дисциплин «Оптическое материаловедение» «Моделирование оптических материалов и процессов». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей, а также при подготовке магистров и аспирантов, специализирующихся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

6.
IPRBooks-65389
65389

    Каманина, Н. В.
    Электрооптические системы на основе жидких кристаллов и фуллеренов – перспективные материалы наноэлектроники. Свойства и области применения [Электронный ресурс] : учебное пособие / Каманина Н. В. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2008. - 139 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 32.86

Кл.слова (ненормированные):
жидкий кристалл -- материал -- наноэлектроника -- фуллерен -- электрооптическая система
Аннотация: Рассмотрены вопросы, связанные с особенностями структурных, электрооптических и нелинейных оптических свойств перспективных материалов наноэлектроники — жидких кристаллов и фуллеренов. Обсуждаются возможности применения указанных материалов в оптоэлектронике, лазерной физике, системах обработки оптической информации, медицине. Предназначено студентам, изучающим дисциплины «Фотофизика оптических материалов», «Материалы и элементы оптической и квантовой электроники», др., а также специализирующимся в области материаловедения, физической оптоэлектроники, биомедицины и систем обработки оптической информации.

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

7.
IPRBooks-67403
67403

    Томилин, М. Г
    Новый поляризационно-оптический микроскоп на основе жидкокристаллического пространственно-временного модулятора света и его применения. [Электронный ресурс] : учебное пособие / Томилин М. Г. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2009. - 116 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 34.9

Кл.слова (ненормированные):
жидкий кристалл -- материаловедение -- микроскоп -- оптика -- фотоника
Аннотация: Описан новый поляризационно-оптического микроскоп, в схеме которого в контакте с объектом помещен слой жидкого кристалла, что позволило визуализировать распределение невидимых физических полей на поверхности изучаемого объекта. Разработана теория визуализации дефектов микрорельефа, структурных дефектов, а также неоднородных электрических и магнитных полей. Приведены результаты экспериментальных исследований с помощью микроскопа объектов материаловедения, медицины и биологии. Разработанные методы изучения поверхности обладают новизной, универсальностью, уникальностью, экспрессивностью, высокой чувствительностью, разрешающей способностью и не требуют разработки нового оборудования. Методические рекомендации адресованы научным сотрудникам, работающим в областях микроскопии и изучении поверхности, а также студентам и аспирантам, обучающихся в области материаловедения, оптики и фотоники.

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

8.
IPRBooks-66432
66432

    Щеулин, А. С.
    Голографические среды на основе кристаллов со структурой флюорита с центрами окраски [Электронный ресурс] / Щеулин А. С. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2009. - 127 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
голограмма -- голографическая среда -- кадмий -- кальций -- флюорит -- фторидный кристалл
Аннотация: Монография посвящена двум малоизученным классам голографических материалов на основе фторидных кристаллов со структурой флюорита, содержащих фотохромные центры окраски, фториду кальция и фториду кадмия. Один из этих классов (фторид кальция) используется для записи высокостабильных голограмм, на основе второго класса (фторид кадмия) созданы голографические среды, работающие в реальном времени. Обсуждаются методы получения кристаллов с центрами окраски, механизмы их фотохромии, физические свойства указанных сред. Рассмотрены процессы записи голограмм, их свойства и характеристики. Приводятся примеры использования голографических элементов, изготовленных на основе этих сред, для решения конкретных задач. Монография предназначена для студентов технических вузов, обучающихся по физическим, оптическим и информационным специальностям.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Ангервакс, А. Е.; Рыскин, А. И.
Свободных экз. нет
Найти похожие

9.
IPRBooks-67480
67480

    Основы кристаллографии и кристаллофизики. Часть I. Введение в теорию симметрии кристалловОсновы кристаллографии и кристаллофизики. Часть I. Введение в теорию симметрии кристаллов [Электронный ресурс] : учебное пособие : учебное пособие. - [Б. м.] : Университет ИТМО : Университет ИТМО, 20092009 - .Основы кристаллографии и кристаллофизики. Часть I. Введение в теорию симметрии кристаллов / Белов Н. П. - 2009. - 45 с. - ISBN 978-5-93916-200-5. - ISBN 978-5-374-00217-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
кристалл -- оптика -- физика -- техника -- лазер
Аннотация: Настоящее учебное пособие содержит минимум сведений по точечной симметрии кристаллов, необходимых для дальнейшего изучения кристаллооптики, нелинейной оптики, оптики полупроводников и оптоэлектроники. Предназначено для студентов 3 и 4 курсов, обучающихся по специальности 200201 «Лазерная техника и лазерные технологии», а также по направлению 140400 «Техническая физика».

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Покопцева, О. К.; Яськов, А. Д.
Свободных экз. нет
Найти похожие

10.
IPRBooks-67304
67304

    Храмов, В. Ю.
    Моделирование взаимодействия излучения с веществом в задачах лазерной оптики [Электронный ресурс] : учебное пособие / Храмов В. Ю. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2010. - 111 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
биологическая среда -- биоткань -- кристалл -- нелинейная оптика -- одномодовый лазер
Аннотация: В учебном пособии изложены вопросы, связанные с твердотельными лазерными системами, нелинейной оптикой, биохимией, медицинской биофизикой, биологией и анатомией человека. Учебное пособие предназначено для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям подготовки 200200 «Оптотехника» и 140400 «Техническая физика».

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Назаров, В. В.; Пушкарева, А. Е.; Сачков, Д. Ю.; Сидорова, О. П.
Свободных экз. нет
Найти похожие

 1-10    11-20   21-30   31-40   41-50   51-60      
 
Статистика
за 30.06.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)