Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>K=линейчатый спектр<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 10092
Автор(ы) : Каспаров К. Н.
Заглавие : Фотоэмиссионный анализ оптического излучения : Монография
Выходные данные : Минск: Белорусская наука, 2011
Колич.характеристики :171 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-985-08-1251-3: Б.ц.
УДК : 535.3
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): линейчатый спектр--фотон--фотоэлектрон--фотоэмиссионный анализ
Аннотация: Фотоэмиссионный анализ излучения основан на зависимости распределения фотоэлектронов внешнего фотоэффекта по энергиям от распределения фотонов в спектре излучения. Экспериментально решена обратная некорректно поставленная задача восстановления сплошных и линейчатых спектров чисто электронным способом без применения каких-либо оптических средств. Излучение объекта используется в телесном угле вплоть до 2 «пи», световые потоки 10 - 8 –10–10 Вт. Идентификация монохроматического излучения фото- и катодолюминесценции слоистых эпитаксиальных полупроводниковых структур позволила за счёт увеличения контраста в растровом электронном микроскопе обнаружить и определить состав слоев при уровне световых потоков ~ 10–10 Вт. Анализ теплового излучения позволяет измерять интегральную цветовую температуру объекта с временным разрешением 10–6 с при методической погрешности измерений ~ 0,3 %. Рассмотрены требования, предъявляемые к датчику для выполнения фотоэмиссионного анализа излучения.
(для доступа требуется авторизация)

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 04.07.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)