Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>K=микроволновый метод<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 64119
Автор(ы) : Чернышов В. Н., Чернышова Т. И.
Заглавие : Микроволновые методы и системы контроля теплофизических характеристик материалов и изделий : Монография
Выходные данные : Тамбов: Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2015
Колич.характеристики :124 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-8265-1413-9: Б.ц.
УДК : 681.5
ББК : 32.84
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроволновый метод--свч-диапазон--система контроля--строительный материал--теплофизическая характеристика--характеристика изделия--характеристика материала--электромагнитное поле
Аннотация: Посвящена теоретическим и практическим аспектам создания микроволновых методов и реализующих их средств оперативного неразрушающего контроля теплофизических характеристик и влажности материалов и готовых изделий при одностороннем доступе к их поверхности. Представлены физико-математические модели температурных полей в исследуемых объектах при бесконтактном одностороннем воздействии на них электромагнитным полем СВЧ-диапазона. Разработаны новые, защищёнными патентами на изобретение методы и реализующие их микропроцессорные системы, в которых электромагнитное СВЧ-излучение при воздействии на объекты фокусируется в линию, плоскость или круг заданных размеров специально разработанными оригинальными аппаратными микроволновыми средствами. Приведён анализ погрешностей созданных методов и средств на базе аналитических соотношений, полученных с использованием математических моделей объектов измерений, измерительных процедур и условий измерений. Предназначена для научных, инженерно-технических работников, преподавателей вузов, аспирантов, студентов.
(для доступа требуется авторизация)

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 01.07.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)