Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=микроскопический метод<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 94975
Автор(ы) : Лыгина Т. З., Фомина Р. Е., Губайдуллина А. М., Водопьянова С. В.
Заглавие : Избранные главы кристаллохимии и методы изучения наноструктурированных материалов : Учебное пособие
Выходные данные : Казань: Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2018
Колич.характеристики :168 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7882-2411-4: Б.ц.
УДК : 62
ББК : 24.5
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кристаллохимия--микроскопический метод--наноразмерный материал--размерный эффект--спектроскопический метод
Аннотация: Содержит описание минералов, кристаллических образований, наноструктур, классификацию и краткие основы методов исследования базовых наноструктурированных систем, которые позволяют проводить исследования структурных, электронных и магнитных свойств нанообъектов и поверхности. Предназначено для бакалавров всех форм обучения направления «Химическая технология» (профиль «Технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов», а также магистров по программам «Технология наномодифицированных неорганических композиционных материалов и покрытий», «Химия и технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов», «Технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов»). Подготовлено на кафедре «Технология неорганических веществ и материалов».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98165
Автор(ы) : Векилова Г. В., Иванов А. Н., Ягодкин Ю. Д.
Заглавие : Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов : Учебное пособие
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2009
Колич.характеристики :145 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-87623-228-1: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифракционный метод--кристаллография--кристаллохимия--микроскопический метод--наноматериал--рентгеновский луч--электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»).
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

 
Статистика
за 01.07.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)