Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Электронный каталог (10)

ЭБС Консультант студента (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 29
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-29

IPRBooks-58198

58198

Архипова, Т. В.
Руководство к практическим занятиям по цитологии [Электронный ресурс] : методическое пособие для бакалавров по направлению подготовки «Педагогическое образование и биология» / Архипова Т. В. - Москва : Прометей, 2016. - 56 с. - ISBN 978-5-9907123-1-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

576

ББК 28.0

Кл.слова (ненормированные):
биология -- световая микроскопия -- цитология -- электронная микроскопия
Аннотация: Настоящее пособие предназначено для студентов, преподавателей и технического персонала в качестве методического руководства при подготовке и проведении лабораторных и практических занятий по цитологии со студентами – бакалаврами по направлению подготовки «Педагогическое образование и биология». Лабораторные занятия проводятся на основе сочетания методов световой и электронной микроскопии. Целью лабораторных занятий является подробное изучение морфологии клеток, их химического состава, функциональной активности внутриклеточных структур, процессов деления клеток и гаметогенеза. В проведении занятий осуществляется последовательность этапов: опрос студентов, краткое объяснение преподавателя, указания для проведения самостоятельной лабораторной работы и задания для подготовки к следующему занятию. В пособии описаны 18 практических занятий в соответствии с рабочей программой дисциплины «Цитология». В результате прохождения курса практических занятий студенты закрепляют теоретические знания и получают устойчивые навыки анализа цитологических препаратов с помощью световой и электронной микроскопии.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Коничев, В. С.; Стволинская, Н. С.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-68195

68195

Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2 [Электронный ресурс] : лабораторный практикум : лабораторный практикум. - [Б. м.] : Университет ИТМО : Университет ИТМО, 20112011 - .Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2 / Баранов А. В. - 2011. - 44 с. - ISBN 978-5-4344-0026-8. - ISBN 978-5-248-00585-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

535

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
техника эксперимента -- физический эксперимент -- пониженная размерность -- спектральное измерение -- параметр люминесценции -- квантовая точка -- инфракрасный диапазон -- атомно-силовая микроскопия -- инфракрасное излучение -- полупроводниковая наноструктура
Аннотация: Лабораторный практикум предназначен для магистрантов второго курса факультета Фотоники и оптоинформатики, обучающихся по магистерской программе 200700.68.05 «Оптика наноструктур» по направлению подготовки 200700 «Фотоника и оптоинформатика» и содержит описание шести лабораторных работ к дисциплине «Методы и техника физического эксперимента». Практикум также может быть рекомендован студентам старших курсов физико-технических специальностей, а также магистрантам, специализирующимся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Литвин, А. П.; Парфенов, П. С.; Ушакова, Е. В.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-68194

68194

Баранов, А. В.
Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью [Электронный ресурс] : учебное пособие / Баранов А. В. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2009. - 191 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

535

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- кривая шапиро -- лазерная техника -- лазерный импульс -- люминесцентная микроскопия -- оптическая микроскопия -- пониженная размерность -- техника эксперимента -- физический эксперимент -- электронная микроскопия
Аннотация: Рассматриваются методы и техника исследования и диагностики наноразмерных объектов, включая электронную, атомно-силовую микроскопию, различные варианты люминесцентной микроскопии и техники КР, ближнепольную оптическую микроскопию, а также лазерную технику, используемую в физических экспериментах. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200600 Фотоника и оптоинформатика для изучения дисциплины «Оптика наноструктур». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей, а также при подготовке магистров и аспирантов, специализирующихся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Виноградова, Г. Н.; Воронин, Ю. М.; Ермолаева, Г. М.; Парфенов, П. С.; Шилов, В. Б.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-18391

18391

Белихов, А. Б.
Основы практической металлографии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Белихов А. Б. - Саратов : Вузовское образование, 2013. - 56 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
практическая металлография -- световая микроскопия -- электронная микроскопия
Аннотация: Данное пособие предназначено для студентов физико-математических факультетов университетов, обучающихся по специализации «Физическое материаловедение». Основное внимание уделено методам световой микроскопии и методике подготовки шлифов изучаемых металлов. Кратко описана суть электронной микроскопии, рентгеновского анализа и других методов изучения и контроля структуры материалов.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Белкин, П. Н.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-78478

78478

Блесман, А. И.
Теоретические основы методов исследования наноматериалов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Блесман А. И. - Омск : Омский государственный технический университет, 2017. - 78 с. - ISBN 978-5-8149-2506-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

620.2

ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- материаловедение -- метод -- микроскопия -- наноматериал -- рентген -- электроника
Аннотация: Представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов - растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие адресовано обучающимся по направлениям 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Даньшина, В. В.; Полонянкин, Д. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-98841

98841

Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия [Электронный ресурс] : курс лекций / Бублик В. Т. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2006. - 93 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
дефект -- дифракционная теория -- микроскопия -- рентгеновская топограмма -- рентгеновский луч -- электроника
Аннотация: В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций. Необходимо особо отменить, что подобного курса лекций, отвечающего современному уровню и объему данного раздела, в числе читаемых для указанных специальностей в настоящее время не имеется. Предназначено для студентов 4 и 5 курсов специальностей 071000, 200100 и направлений 5516, 5507, 5531, а также аспирантов специализирующихся в области физики и технологии роста кристаллов по специальностям: 01.24.10, 05.27.06 и 05.27.01.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Мильвидский, А. М.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-98165

98165

Векилова, Г. В.
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Векилова Г. В. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2009. - 145 с. - ISBN 978-5-87623-228-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

548

ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный метод -- кристаллография -- кристаллохимия -- микроскопический метод -- наноматериал -- рентгеновский луч -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»).

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Иванов, А. Н.; Ягодкин, Ю. Д.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-66494

66494

Виноградова, Г. Н.
История науки и приборостроения [Электронный ресурс] : учебное пособие / Виноградова Г. Н. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2012. - 160 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 72.3

Кл.слова (ненормированные):
история -- микроскопия -- наука -- образование -- приборостроение
Аннотация: Рассматривается ход истории науки и образования с учетом изменения мировоззрения, а также развитие оптического приборостроения на примере истории микроскопии. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200700 Фотоника и оптоинформатика для изучения дисциплины «История и методология фотоники и оптоинформатики». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей.

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-62332

62332

Виноградова, С. С.
Физические методы в исследованиях осаждения и коррозии металлов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Виноградова С. С. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 144 с. - ISBN 978-5-7882-1505-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

620.193

ББК 34.6

Кл.слова (ненормированные):
коррозия металла -- метод исследования -- осаждение -- рентгенофлуоресцентный анализ -- спектроскопия -- туннельная микроскопия -- физический метод -- электроосаждение металла -- электросиловая микроскопия
Аннотация: Описываются теоретические основы физических методов исследования морфологии, качественного и количественного состава поверхности. Рассматриваются микроскопические и спектроскопические методы исследования. Приводятся примеры применения этих методов в исследованиях осаждения и коррозии металлов. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 240100 «Химическая технология», и аспирантов, специализирующихся в области защиты металлов от коррозии. Подготовлено на кафедре технологии электрохимических производств.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Кайдриков, Р. А.; Макарова, А. Н.; Журавлев, Б. Л.
Свободных экз. нет
Найти похожие

10.

IPRBooks-61986

61986

Вознесенский, Э. Ф.
Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Вознесенский Э. Ф. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014. - 184 с. - ISBN 978-5-7882-1545-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

537.533

ББК 22.33я7

Кл.слова (ненормированные):
исследование материала -- метод исследования -- метод микроскопии -- рентгеновская микроскопия -- структурное исследование -- томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Шарифуллин, Ф. С.; Абдуллин, И. Ш.
Свободных экз. нет
Найти похожие

1-10 11-20 21-29

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 29.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)