Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Электронный каталог (10)

ЭБС Консультант студента (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 29
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-29

IPRBooks-12728

12728

Кларк, Э. Р.
Микроскопические методы исследования материалов [Электронный ресурс] : монография / Кларк Э. Р. - Москва : Техносфера, 2007. - 376 с. - ISBN 978-5-94836-121-5 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

620

ББК 30

Кл.слова (ненормированные):
исследование материалов -- компьютерная микроскопия -- микроскопические методы -- монография
Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Эберхард, К. Н.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-45104

45104

Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I [Электронный ресурс] : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2013 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I / Филимонова Н. И. - 2013. - 134 с. - ISBN 978-5-7782-2158-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

621.385

ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронный материал -- наноэлектронная структура -- сканирующая микроскопия -- зондовая микроскопия
Аннотация: Пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 222900 «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Экспериментальные методы исследования и метрология», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем», и студентов, обучающихся по направлению 210100 «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Кольцов, Б. Б.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-68195

68195

Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2 [Электронный ресурс] : лабораторный практикум : лабораторный практикум. - [Б. м.] : Университет ИТМО : Университет ИТМО, 20112011 - .Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2 / Баранов А. В. - 2011. - 44 с. - ISBN 978-5-4344-0026-8. - ISBN 978-5-248-00585-7 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

535

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
техника эксперимента -- физический эксперимент -- пониженная размерность -- спектральное измерение -- параметр люминесценции -- квантовая точка -- инфракрасный диапазон -- атомно-силовая микроскопия -- инфракрасное излучение -- полупроводниковая наноструктура
Аннотация: Лабораторный практикум предназначен для магистрантов второго курса факультета Фотоники и оптоинформатики, обучающихся по магистерской программе 200700.68.05 «Оптика наноструктур» по направлению подготовки 200700 «Фотоника и оптоинформатика» и содержит описание шести лабораторных работ к дисциплине «Методы и техника физического эксперимента». Практикум также может быть рекомендован студентам старших курсов физико-технических специальностей, а также магистрантам, специализирующимся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Литвин, А. П.; Парфенов, П. С.; Ушакова, Е. В.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-63529

63529

Лыгина, Т. З.
Физико-химические и адсорбционные методы исследования неорганических природных минеральных сорбентов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Лыгина Т. З. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2009. - 79 с. - ISBN 978-5-7882-0682-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

543

ББК 24.4

Кл.слова (ненормированные):
адсорбционный метод -- инфракрасная спектроскопия -- минеральный сорбент -- порометрия -- термический анализ -- фазовый анализ -- химический анализ -- электронная микроскопия
Аннотация: Всесторонне изложен рекомендуемый комплекс физико-химических и адсорбционных методов исследования сорбентов. Дана общая характеристика неорганических природных минеральных сорбентов. Предназначено для студентов всех форм обучения, обучающихся по специальностям 240304 «Химическая технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов» и 240301 «Химическая технология неорганических веществ», изучающих дисциплины «Сырьевые ресурсы химической технологии», «Химическая технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов», «Химическая технология неорганических веществ».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Михайлова, О. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-18391

18391

Белихов, А. Б.
Основы практической металлографии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Белихов А. Б. - Саратов : Вузовское образование, 2013. - 56 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
практическая металлография -- световая микроскопия -- электронная микроскопия
Аннотация: Данное пособие предназначено для студентов физико-математических факультетов университетов, обучающихся по специализации «Физическое материаловедение». Основное внимание уделено методам световой микроскопии и методике подготовки шлифов изучаемых металлов. Кратко описана суть электронной микроскопии, рентгеновского анализа и других методов изучения и контроля структуры материалов.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Белкин, П. Н.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-66494

66494

Виноградова, Г. Н.
История науки и приборостроения [Электронный ресурс] : учебное пособие / Виноградова Г. Н. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2012. - 160 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 72.3

Кл.слова (ненормированные):
история -- микроскопия -- наука -- образование -- приборостроение
Аннотация: Рассматривается ход истории науки и образования с учетом изменения мировоззрения, а также развитие оптического приборостроения на примере истории микроскопии. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200700 Фотоника и оптоинформатика для изучения дисциплины «История и методология фотоники и оптоинформатики». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей.

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-68194

68194

Баранов, А. В.
Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью [Электронный ресурс] : учебное пособие / Баранов А. В. - Санкт-Петербург : Университет ИТМО, 2009. - 191 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

535

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- кривая шапиро -- лазерная техника -- лазерный импульс -- люминесцентная микроскопия -- оптическая микроскопия -- пониженная размерность -- техника эксперимента -- физический эксперимент -- электронная микроскопия
Аннотация: Рассматриваются методы и техника исследования и диагностики наноразмерных объектов, включая электронную, атомно-силовую микроскопию, различные варианты люминесцентной микроскопии и техники КР, ближнепольную оптическую микроскопию, а также лазерную технику, используемую в физических экспериментах. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200600 Фотоника и оптоинформатика для изучения дисциплины «Оптика наноструктур». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей, а также при подготовке магистров и аспирантов, специализирующихся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Виноградова, Г. Н.; Воронин, Ю. М.; Ермолаева, Г. М.; Парфенов, П. С.; Шилов, В. Б.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-93583

93583

Миронов, В. Л.
Сканерлеуші зондтық микроскопия негіздері [Электронный ресурс] : оқу-əдістемелік құрал / Миронов В. Л. - Алматы : Казахский национальный университет им. аль-Фараби, 2014. - 135 с. - ISBN 978-601-04-0261-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

535.8

ББК 22.338

Кл.слова (ненормированные):
микроскоп -- қасиеттері -- әзірлеу
Аннотация: Сканерлеуші зондық микроскопия көмегімен қатты денелі, пленка тəріздес материалдардың, полимерлердің, биологиялық объектілердің бет бедерін жоғары ажырату қабілетімен зерттеуге мүмкіндік береді. Əртүрлі объектілердің бет бедерінің ерекшелігіне қарай ондаған əдістердің ішінен белгілі бір зерттеу əдісінің таңдалуын ескерсек, берілген оқу-əдіс-темесінің СЗМ жұмыс принципін түбегейлі түсінуге мүмкіндік беретінін атап көрсету керек. Бұл еңбек сканерлеуші зондтық микроскоптың жұмыс істеу принципімен танысуда студенттер мен мектеп оқушылары үшін ғана емес, сонымен қатар біліктілігі жоғары мамандар үшін де маңызды.

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-98165

98165

Векилова, Г. В.
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Векилова Г. В. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2009. - 145 с. - ISBN 978-5-87623-228-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

548

ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный метод -- кристаллография -- кристаллохимия -- микроскопический метод -- наноматериал -- рентгеновский луч -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»).

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Иванов, А. Н.; Ягодкин, Ю. Д.
Свободных экз. нет
Найти похожие

10.

IPRBooks-98841

98841

Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия [Электронный ресурс] : курс лекций / Бублик В. Т. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2006. - 93 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
дефект -- дифракционная теория -- микроскопия -- рентгеновская топограмма -- рентгеновский луч -- электроника
Аннотация: В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций. Необходимо особо отменить, что подобного курса лекций, отвечающего современному уровню и объему данного раздела, в числе читаемых для указанных специальностей в настоящее время не имеется. Предназначено для студентов 4 и 5 курсов специальностей 071000, 200100 и направлений 5516, 5507, 5531, а также аспирантов специализирующихся в области физики и технологии роста кристаллов по специальностям: 01.24.10, 05.27.06 и 05.27.01.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Мильвидский, А. М.
Свободных экз. нет
Найти похожие

1-10 11-20 21-29

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 29.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)