Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Электронный каталог (10)

ЭБС Консультант студента (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 29
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-29

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 58198
Автор(ы) : Архипова Т. В., Коничев В. С., Стволинская Н. С.
Заглавие : Руководство к практическим занятиям по цитологии : Методическое пособие для бакалавров по направлению подготовки «Педагогическое образование и биология»
Выходные данные : Москва: Прометей, 2016
Колич.характеристики :56 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-9907123-1-7: Б.ц.
УДК : 576
ББК : 28.0
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): биология--световая микроскопия--цитология--электронная микроскопия
Аннотация: Настоящее пособие предназначено для студентов, преподавателей и технического персонала в качестве методического руководства при подготовке и проведении лабораторных и практических занятий по цитологии со студентами – бакалаврами по направлению подготовки «Педагогическое образование и биология». Лабораторные занятия проводятся на основе сочетания методов световой и электронной микроскопии. Целью лабораторных занятий является подробное изучение морфологии клеток, их химического состава, функциональной активности внутриклеточных структур, процессов деления клеток и гаметогенеза. В проведении занятий осуществляется последовательность этапов: опрос студентов, краткое объяснение преподавателя, указания для проведения самостоятельной лабораторной работы и задания для подготовки к следующему занятию. В пособии описаны 18 практических занятий в соответствии с рабочей программой дисциплины «Цитология». В результате прохождения курса практических занятий студенты закрепляют теоретические знания и получают устойчивые навыки анализа цитологических препаратов с помощью световой и электронной микроскопии.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 68195
Автор(ы) : Баранов А. В., Баранов А. В., Литвин А. П., Парфенов П. С., Ушакова Е. В.
Заглавие : Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2: Лабораторный практикум: Лабораторный практикум. Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2
Выходные данные : : Университет ИТМО: Университет ИТМО Б.м., 2011
Колич.характеристики :44 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-4344-0026-8978-5-248-00585-7: Б.ц.
УДК : 535
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): техника эксперимента--физический эксперимент--пониженная размерность--спектральное измерение--параметр люминесценции--квантовая точка--инфракрасный диапазон--атомно-силовая микроскопия--инфракрасное излучение--полупроводниковая наноструктура
Аннотация: Лабораторный практикум предназначен для магистрантов второго курса факультета Фотоники и оптоинформатики, обучающихся по магистерской программе 200700.68.05 «Оптика наноструктур» по направлению подготовки 200700 «Фотоника и оптоинформатика» и содержит описание шести лабораторных работ к дисциплине «Методы и техника физического эксперимента». Практикум также может быть рекомендован студентам старших курсов физико-технических специальностей, а также магистрантам, специализирующимся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 68194
Автор(ы) : Баранов А. В., Баранов А. В., Виноградова Г. Н., Воронин Ю. М., Ермолаева Г. М., Парфенов П. С., Шилов В. Б.
Заглавие : Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью : Учебное пособие
Выходные данные : Санкт-Петербург: Университет ИТМО, 2009
Колич.характеристики :191 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 535
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): атомно-силовая микроскопия--кривая шапиро--лазерная техника--лазерный импульс--люминесцентная микроскопия--оптическая микроскопия--пониженная размерность--техника эксперимента--физический эксперимент--электронная микроскопия
Аннотация: Рассматриваются методы и техника исследования и диагностики наноразмерных объектов, включая электронную, атомно-силовую микроскопию, различные варианты люминесцентной микроскопии и техники КР, ближнепольную оптическую микроскопию, а также лазерную технику, используемую в физических экспериментах. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200600 Фотоника и оптоинформатика для изучения дисциплины «Оптика наноструктур». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей, а также при подготовке магистров и аспирантов, специализирующихся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 18391
Автор(ы) : Белихов А. Б., Белкин П. Н.
Заглавие : Основы практической металлографии : Учебное пособие
Выходные данные : Саратов: Вузовское образование, 2013
Колич.характеристики :56 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 53
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): практическая металлография--световая микроскопия--электронная микроскопия
Аннотация: Данное пособие предназначено для студентов физико-математических факультетов университетов, обучающихся по специализации «Физическое материаловедение». Основное внимание уделено методам световой микроскопии и методике подготовки шлифов изучаемых металлов. Кратко описана суть электронной микроскопии, рентгеновского анализа и других методов изучения и контроля структуры материалов.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 78478
Автор(ы) : Блесман А. И., Даньшина В. В., Полонянкин Д. А.
Заглавие : Теоретические основы методов исследования наноматериалов : Учебное пособие
Выходные данные : Омск: Омский государственный технический университет, 2017
Колич.характеристики :78 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-8149-2506-0: Б.ц.
УДК : 620.2
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифрактометрия--исследование--материаловедение--метод--микроскопия--наноматериал--рентген--электроника
Аннотация: Представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов - растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие адресовано обучающимся по направлениям 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98841
Автор(ы) : Бублик В. Т., Мильвидский А. М.
Заглавие : Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия : Курс лекций
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2006
Колич.характеристики :93 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 62
ББК : 32.85
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефект--дифракционная теория--микроскопия--рентгеновская топограмма--рентгеновский луч--электроника
Аннотация: В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций. Необходимо особо отменить, что подобного курса лекций, отвечающего современному уровню и объему данного раздела, в числе читаемых для указанных специальностей в настоящее время не имеется. Предназначено для студентов 4 и 5 курсов специальностей 071000, 200100 и направлений 5516, 5507, 5531, а также аспирантов специализирующихся в области физики и технологии роста кристаллов по специальностям: 01.24.10, 05.27.06 и 05.27.01.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98165
Автор(ы) : Векилова Г. В., Иванов А. Н., Ягодкин Ю. Д.
Заглавие : Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов : Учебное пособие
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2009
Колич.характеристики :145 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-87623-228-1: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифракционный метод--кристаллография--кристаллохимия--микроскопический метод--наноматериал--рентгеновский луч--электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»).
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 66494
Автор(ы) : Виноградова Г. Н.
Заглавие : История науки и приборостроения
Выходные данные : Санкт-Петербург: Университет ИТМО, 2012
Колич.характеристики :160 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 00
ББК : 72.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): история--микроскопия--наука--образование--приборостроение
Аннотация: Рассматривается ход истории науки и образования с учетом изменения мировоззрения, а также развитие оптического приборостроения на примере истории микроскопии. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200700 Фотоника и оптоинформатика для изучения дисциплины «История и методология фотоники и оптоинформатики». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 62332
Автор(ы) : Виноградова С. С., Виноградова С. С., Кайдриков Р. А., Макарова А. Н., Журавлев Б. Л.
Заглавие : Физические методы в исследованиях осаждения и коррозии металлов : Учебное пособие
Выходные данные : Казань: Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014
Колич.характеристики :144 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7882-1505-1: Б.ц.
УДК : 620.193
ББК : 34.6
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): коррозия металла--метод исследования--осаждение--рентгенофлуоресцентный анализ--спектроскопия--туннельная микроскопия--физический метод--электроосаждение металла--электросиловая микроскопия
Аннотация: Описываются теоретические основы физических методов исследования морфологии, качественного и количественного состава поверхности. Рассматриваются микроскопические и спектроскопические методы исследования. Приводятся примеры применения этих методов в исследованиях осаждения и коррозии металлов. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 240100 «Химическая технология», и аспирантов, специализирующихся в области защиты металлов от коррозии. Подготовлено на кафедре технологии электрохимических производств.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 61986
Автор(ы) : Вознесенский Э. Ф., Шарифуллин Ф. С., Абдуллин И. Ш.
Заглавие : Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : Учебное пособие
Выходные данные : Казань: Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014
Колич.характеристики :184 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7882-1545-7: Б.ц.
УДК : 537.533
ББК : 22.33я7
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): исследование материала--метод исследования--метод микроскопии--рентгеновская микроскопия--структурное исследование--томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.
(для доступа требуется авторизация)

1-10 11-20 21-29

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 01.07.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)