Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Электронный каталог (10)

ЭБС Консультант студента (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 29
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-29

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 72883
Автор(ы) : Кузнецова Т. В., Самченко С. В.
Заглавие : Микроскопия материалов цементного производства : Учебное пособие
Выходные данные : Саратов: Вузовское образование, 2018
Колич.характеристики :235 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-4487-0155-9: Б.ц.
УДК : 666
ББК : 35.20-46
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кристаллический продукт--кристаллооптический метод--микроскопия--поляризационный микроскоп--цементное производство
Аннотация: В книге излагается теория и практика методов исследования и определения минералов и искусственных кристаллических продуктов с помощью поляризационного микроскопа. Теория дается в объеме, необходимом для сознательного овладения методикой. Большое внимание уделено практическим вопросам. Разделы, посвященные использованию микроскопических методов, наряду с учетом достижений отечественных и зарубежных исследований, содержат описание практических разработок авторов, значительная часть которых используется в научно-исследовательской практике. Книга может применяться как руководство для специалистов, использующих кристаллооптические методы исследования, а также предназначаться в качестве учебного пособия для студентов вузов технологических специальностей.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 78478
Автор(ы) : Блесман А. И., Даньшина В. В., Полонянкин Д. А.
Заглавие : Теоретические основы методов исследования наноматериалов : Учебное пособие
Выходные данные : Омск: Омский государственный технический университет, 2017
Колич.характеристики :78 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-8149-2506-0: Б.ц.
УДК : 620.2
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифрактометрия--исследование--материаловедение--метод--микроскопия--наноматериал--рентген--электроника
Аннотация: Представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов - растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие адресовано обучающимся по направлениям 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 69545
Автор(ы) : Филимонова Н. И., Величко А. А., Фадеева Н. Е.
Заглавие : Методы электронной микроскопии : Учебное пособие
Выходные данные : Новосибирск: Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016
Колич.характеристики :61 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 62
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): линза--микроскоп--пэм--сэм--электронная микроскопия--электронный пучок
Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 72702
Автор(ы) : Сулейманов С. М., Дерезина Т. Н., Паршин П. А.
Заглавие : Микроструктурная организация внутренних органов поросят при рахите. Гистологический атлас : Учебное пособие
Выходные данные : Воронеж: Воронежский Государственный Аграрный Университет им. Императора Петра Первого, 2016
Колич.характеристики :98 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7267-0847-8: Б.ц.
УДК : 61
ББК : 48.1
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): болезнь--ветеринария--гистология--животное--микроскопия--орган--поросенок--сельское хозяйство
Аннотация: В пособии рассмотрены вопросы возрастной морфологии органов клинически здоровых и больных рахитом поросят. Атлас состоит из шести разделов. Иллюстрирован фотографиями, выполненными при световой микроскопии гистологических срезов органов. Предназначен для студентов факультетов ветеринарной медицины, преподавателей специализированных высших и средних учебных заведений, практикующих ветеринарных врачей.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 60748
Автор(ы) : Панова Т. В.
Заглавие : Современные методы исследования вещества. Электронная и оптическая микроскопия : Учебное пособие
Выходные данные : Омск: Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского, 2016
Колич.характеристики :80 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7779-2052-2: Б.ц.
УДК : 681.7
ББК : 22.38я73
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): метод исследования вещества--растровая электронная микроскопия--электронный микроскоп
Аннотация: Дано изложение различных методов просвечивающей и растровой электронной микроскопии, методов оптической микроскопии и их практического применения. Рассматриваются взаимодействие электронов с веществом, принципы формирования изображения в электронном микроскопе, основные узлы электронного микроскопа и способы приготовления образцов. Содержит задания для практической работы. Для студентов старших курсов вузов, изучающих курс «Современные методы исследования вещества».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 26894
Автор(ы) : Неволин В. К.
Заглавие : Зондовые нанотехнологии в электронике
Выходные данные : Москва: Техносфера, 2014
Колич.характеристики :174 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-94836-382-0: Б.ц.
УДК : 62
ББК : 32.85
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): зондовая микроскопия--зондовые нанотехнологии--интегральная схема--квантовая схема--электроника--электрохимический массоперенос
Аннотация: Прогресс в микроэлектронике связывают с уменьшением линейных размеров функциональных элементов. Если их размеры становятся порядка нанометров, то существенными являются квантовые эффекты, принципиально меняющие физику работы. Созданием таких элементов и интегральных квантовых схем на их основе занимается нанотехнология. В монографии изложены физические основы зондовой нанотехнологии на базе сканирующих туннельных и атомно-силовых микроскопов, показаны основные достижения, обсуждаются проблемы, требующие решения. Предназначена для студентов старших курсов, аспирантов и молодых ученых, желающих познакомиться с новым научным направлением и попробовать свои силы в развитии технологии ХХI века.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 61986
Автор(ы) : Вознесенский Э. Ф., Шарифуллин Ф. С., Абдуллин И. Ш.
Заглавие : Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : Учебное пособие
Выходные данные : Казань: Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014
Колич.характеристики :184 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7882-1545-7: Б.ц.
УДК : 537.533
ББК : 22.33я7
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): исследование материала--метод исследования--метод микроскопии--рентгеновская микроскопия--структурное исследование--томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 74060
Автор(ы) : Ильющенко А. Ф., Ильющенко А. Ф., Маркова Л. В., Чекан В. А., Фомихина И. В., Коледа В. В.
Заглавие : Атлас производственных разрушений различных конструкций
Выходные данные : Минск: Белорусская наука, 2017
Колич.характеристики :314 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-985-08-2142-3: Б.ц.
УДК : 624.01
ББК : 38.5
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): атлас разрушений--исследование изломов--коррозионное растрескивание--межзеренное разрушение--производственное разрушение--разрушение конструкции--стальная конструкция--усталостное разрушение--фрактографический анализ--фрактография
Аннотация: В монографии, которая представляет собой собрание наиболее типичных видов разрушений и является руководством по проведению анализа разрушений машин и конструкций различного назначения, приведены данные об истории развития фрактографии. Представлены приемы проведения фрактографического анализа и правила подготовки изломов к исследованиям. Описаны многочисленные примеры разрушений техники и различных конструкций в процессе эксплуатации с подробным рассмотрением причин, вызвавших данные разрушения. При исследовании изломов применены такие современные методы, как сканирующая и электронная микроскопия и микрорентгеноспектральный анализатор. Монография предназначена для научных и инженерно-технических работников в области исследований причин разрушений техники и различных конструкций в процессе эксплуатации, аспирантов, студентов.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 57256
Заглавие : Выполнение расчетно-графической работы по теме «Растровая электронная микроскопия» : Учебно-методическое пособие
Выходные данные : Саратов: Вузовское образование, 2017
Колич.характеристики :41 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 531
ББК : 32.84
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): твердое тело--топология поверхности--физика--электронная микроскопия
Аннотация: Учебно-методическое пособие по выполнению расчетно-графической работы по теме «Растровая электронная микроскопия» подготовлено для бакалавров и магистров инженерно-физических направлений подготовки высшего профессионального образования, изучающих дисциплины «Экспериментальные методы физики твердого тела» и «Теоретические и экспериментальные методы физики твердого тела». В данном учебно-методическом пособии рассматриваются физические основы метода растровой электронной микроскопии и его применение для исследования топографии и состояния поверхности. Учебно-методическое пособие содержит указания по исследованию топологии поверхности: границ зерен, пор, трещин, неоднородности состава и пр. Пособие также будет интересно аспирантам и молодым ученым естественнонаучного блока при проведении научно-исследовательской работы, а также студентам при выполнении НИРС. Пособие подготовлено в рамках работ по гранту АмГУ.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 58198
Автор(ы) : Архипова Т. В., Коничев В. С., Стволинская Н. С.
Заглавие : Руководство к практическим занятиям по цитологии : Методическое пособие для бакалавров по направлению подготовки «Педагогическое образование и биология»
Выходные данные : Москва: Прометей, 2016
Колич.характеристики :56 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-9907123-1-7: Б.ц.
УДК : 576
ББК : 28.0
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): биология--световая микроскопия--цитология--электронная микроскопия
Аннотация: Настоящее пособие предназначено для студентов, преподавателей и технического персонала в качестве методического руководства при подготовке и проведении лабораторных и практических занятий по цитологии со студентами – бакалаврами по направлению подготовки «Педагогическое образование и биология». Лабораторные занятия проводятся на основе сочетания методов световой и электронной микроскопии. Целью лабораторных занятий является подробное изучение морфологии клеток, их химического состава, функциональной активности внутриклеточных структур, процессов деления клеток и гаметогенеза. В проведении занятий осуществляется последовательность этапов: опрос студентов, краткое объяснение преподавателя, указания для проведения самостоятельной лабораторной работы и задания для подготовки к следующему занятию. В пособии описаны 18 практических занятий в соответствии с рабочей программой дисциплины «Цитология». В результате прохождения курса практических занятий студенты закрепляют теоретические знания и получают устойчивые навыки анализа цитологических препаратов с помощью световой и электронной микроскопии.
(для доступа требуется авторизация)

1-10 11-20 21-29

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 29.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)