Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=надёжность устройства<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 92706
Заглавие : Надежность технических систем и техногенный риск : Практикум
Выходные данные : Ставрополь: Северо-Кавказский федеральный университет, 2018
Колич.характеристики :106 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 614.8
ББК : 68.9
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): анализ риска--диаграмма фармера--марковский процесс--надежность системы--надёжность устройства--резервированная система--теория риска--техническая система--техногенный риск--технологическое оборудование
Аннотация: Пособие составлено в соответствии с требованиями ФГОС ВО, в нем изложены основные теоретические аспекты, необходимые для выполнения всех практических работ по курсу, приведены примеры расчетов, задачи для самостоятельного решения, вопросы для контроля знаний, основная и дополнительная литература. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки 20.03.01 Техносферная безопасность.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

 
Статистика
за 03.07.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)