Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=реальный кристалл<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 56590
Автор(ы) : Диденко И. С., Диденко И. С., Козлова Н. С., Кугаенко О. М., Петраков В. С.
Заглавие : Физика реального кристалла : Лабораторный практикум
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2013
Колич.характеристики :76 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-87623-747-7: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефект--реальный кристалл--физика
Аннотация: Лабораторный практикум включает в себя материал, необходимый для подготовки и проведения лабораторных работ по дисциплине «Физика реального кристалла». Изложены основы теории изучаемых явлений, описание аппаратуры и методик измерения. Цель лабораторного практикума – приобретение студентами практических навыков исследования механических и электрофизических свойств кристаллов, определения концентрации точечных дефектов в кристаллах оптическим методом и влияния точечных дефектов на оптические свойства кристаллов. В процессе выполнения лабораторных работ студенты осваивают методики измерения микротвердости, микрохрупкости, электропроводности и спектров поглощения диэлектрических кристаллов, а также приобретают навыки определения величин, характеризующих дефекты в кристаллах, в том числе определение концентрации точечных дефектов. Лабораторный практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлениям подготовки магистров 223200.68 «Техническая физика», 150100.68 «Материаловедение и технологии материалов».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98052
Автор(ы) : Иванов А. Н., Поляков А. М.
Заглавие : Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений : Учебное пособие
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2002
Колич.характеристики :79 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 539
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифракционный метод--кристаллическая структура--материал--реальный кристалл--рентгеновское излучение--субструктура
Аннотация: В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта. Описаны основные принципы статистической динамической теории рассеяния рентгеновских лучей кристаллами, содержащими дислокации и другие дефекты второго класса по классификации М.А. Кривоглаза. Пособие по специальному курсу «Дифракционные методы исследования» предназначено для студентов специальности 07090.00 и направлений 5104.03 и 5104.11, а также может быть использовано студентами и аспирантами, выполняющими НИР в области материаловедения.
(для доступа требуется авторизация)

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 03.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)