Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=рентгеновская микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 61986
Автор(ы) : Вознесенский Э. Ф., Шарифуллин Ф. С., Абдуллин И. Ш.
Заглавие : Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии : Учебное пособие
Выходные данные : Казань: Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2014
Колич.характеристики :184 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7882-1545-7: Б.ц.
УДК : 537.533
ББК : 22.33я7
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): исследование материала--метод исследования--метод микроскопии--рентгеновская микроскопия--структурное исследование--томография
Аннотация: Рассмотрены основные методы исследования структуры материалов, параметры микроструктуры и способы ее визуализации. Особое внимание уделено методам микроскопии, применяемым в материаловедении, таким как оптическая, электронная и зондовая. Приведены сведения о дополнительных и специальных микроскопических методах. Предназначено для студентов всех форм обучения по направлениям подготовки 152200.62 «Наноинженерия», 150100.62 «Материаловедение и технология материалов» (профиль «Материаловедение и технология наноматериалов»), а также может быть полезно для научных работников, преподавателей и аспирантов вузов. Подготовлено на кафедре плазмохимических и нанотехнологий высокомолекулярных материалов.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

 
Статистика
за 29.06.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)