Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=рентгеновская рефлектометрия<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 64174
Автор(ы) : Бублик В. Т., Щербачев К. Д., Воронова М. И.
Заглавие : Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия : Учебное пособие
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2016
Колич.характеристики :84 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-87623-982-2: Б.ц.
УДК : 62
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифракционный метод--диффузное рассеяние--материал--приборная структура--рентгеновская рефлектометрия
Аннотация: Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

 
Статистика
за 01.07.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)