Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=рентгеновская спектроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 78713
Автор(ы) : Луков В. В., Щербаков И. Н.
Заглавие : Физические методы исследования в химии : Учебное пособие
Выходные данные : Ростов-на-Дону: Южный федеральный университет; Ростов-на-Дону: Издательство Южного федерального университета, 20162016
Колич.характеристики :216 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-9275-2023-7: Б.ц.
УДК : 544
ББК : 24.5
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): инфракрасная спектроскопия--рентгеновская спектроскопия--физический метод--химия--электрический метод--электронная спектроскопия
Аннотация: Учебное пособие соответствует требованиям ФГОС ВО и программе учебной дисциплины «Физические методы исследования в химии». Детально изложены основные теоретические понятия и рассмотрены методики таких современных методов исследования, как ИК-, ЯМР-, ЭПР-, EXAFS- и электронная спектроскопия, а также метода дипольных моментов. Предназначено для студентов, аспирантов и преподавателей химических факультетов университетов.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 68146
Автор(ы) : Федоров А. В., Федоров А. В., Баранов А. В., Литвин А. П., Черевков С. А.
Заглавие : Специальные методы измерения физических величин : Учебное пособие
Выходные данные : Санкт-Петербург: Университет ИТМО, 2014
Колич.характеристики :130 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 530
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): атомно-силовая микроскопия--изучение наноструктуры--метод измерения--нанолитография--оптическая спектроскопия--рентгеновская спектроскопия--туннельная микроскопия--физическая величина--экспериментальный метод--электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассматриваются современные экспериментальные методы изучения наноструктур, включая электронную и атомно-силовую микроскопию, рентгеновскую спектроскопию, а также стационарную и нестационарную оптическую спектроскопию. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200700 «Фотоника и оптоинформатика» в рамках Магистерской программы 200700.68 «Физика наноструктур» для изучения дисциплины «Специальные методы измерения физических величин». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей, а также при подготовке магистров и аспирантов, специализирующихся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 68129
Автор(ы) : Золотарев В. М., Никоноров Н. В., Игнатьев А. И.
Заглавие : Современные методы исследования оптических материалов. Часть 1: Учебное пособие, курс лекций. Современные методы исследования оптических материалов. Часть 1
Выходные данные : : Университет ИТМО Б.м., 2013
Колич.характеристики :267 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7782-2377-6: Б.ц.
УДК : 67
ББК : 32.86
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): метод исследования--оптический материал--химический состав--рентгеновская спектроскопия--рентгеновская дифрактометрия--метод ионизации--фотоакустическая спектроскопия--эмиссионная спектроскопия--термогравиметрия
Аннотация: Курс лекций является первым учебно-методическим пособием по современным методам исследования оптических материалов. В нем кратко рассмотрены основы рентгеновских, оптических, спектральных и термических методов исследования оптических материалов, в том числе и наноматериалов. Дан анализ областей применения этих методов применительно к задачам, связанным с проведением исследований по разработке новых оптических материалов. Описание принципов действия методов сопровождается набором иллюстраций в формате 2D и 3D, которые позволяют представить данные, получаемые на приборах, в наглядной форме, удобной для восприятия многоплановой информации. Учебное пособие предназначено для магистров, обучающихся по направлению «Фотоника и оптоинформатика» по магистерской программе «Оптические материалы фотоники и оптоинформатики» при изучении дисциплин «Конденсированные лазерные среды», «Волноводная фотоника», «Материалы и технологии волоконной и интегральной оптики», «ИК-фотоника», «Спектроскопия и рефрактометрия», «Наноматериалы и нанотехнологии», «Стеклообразные полупроводники для фотоники», «Методы исследования материалов фотоники», «Органические оптические материалы и композиты», а также обучающихся по направлению «Оптотехника» при изучении дисциплин «Методы и приборы для научных исследований» и «Материалы лазерной оптоэлектроники».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 95819
Автор(ы) : Яловега Г. Э., Мазурицкий М. И., Козаков А. Т., Шматко В. А., Кременная М. А.
Заглавие : Рентгеноспектральные методы исследования материалов на основе синхротронного излучения : Учебное пособие
Выходные данные : Ростов-на-Дону, Таганрог: Издательство Южного федерального университета, 2019
Колич.характеристики :146 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-9275-3202-5: Б.ц.
УДК : 535
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): детектор--монохроматор--рентгеновская спектроскопия--рентгеновское излучение--фотоэлектронная спектроскопия
Аннотация: Учебное пособие содержит изложение материала, входящего в учебную программу курсов «Специальный физический практикум», «Физика рентгеновских лучей», «Синхротронное излучение в исследовании материалов», изучаемых студентами специальностей «Физика конденсированного состояния», «Физика», «Физика, химия и технология функциональных материалов» физического факультета и НИИ физики Южного федерального университета. Содержит контрольные вопросы и проектные задания. Предназначено для студентов, которые обучаются по программам бакалавриата и магистратуры в области физики конденсированного состояния, материаловедения, нанотехнологий. Создано при поддержке Южного федерального университета (ВнГр-07/2017-30).
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 87446
Автор(ы) : Яловега Г. Э., Шматко В. А., Фуник А. О., Невзорова Н. М.
Заглавие : Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов: исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии : Монография
Выходные данные : Ростов-на-Дону, Таганрог: Издательство Южного федерального университета, 2017
Колич.характеристики :156 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-9275-2415-0: Б.ц.
УДК : 539.2
ББК : 30.36
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кремниевая матрица--металлооксидная наноструктура--нанокомпозит--нанокомпозитная пленка--оксид 3d-металла--рентгеновская дифрактометрия--рентгеновская спектроскопия--углеродная матрица--электронная микроскопия
Аннотация: Монография посвящена результатам исследования морфологии, структуры и физико-химических свойств нанокомпозитных материалов на основе оксидов 3d-металлов с углеродной и кремниевой матрицами. Адресована специалистам, работающим в области рентгеновской спектроскопии, материаловедения и смежных специальностей. Может быть полезна аспирантам и студентам, обучающимся по направлениям «Физика», «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Материаловедение». Результаты исследований, приведенные в монографии, были получены при поддержке гранта Южного федерального университета ВнГр-07/2017-30 и гранта Министерства образования и науки Российской Федерации №11.2432.2014/K.
(для доступа требуется авторизация)

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 01.07.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)