Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=рентгеновский дифрактометр<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 22926
Автор(ы) : Коваленко И. А., Коваленко И. А., Бахтин С. В., Богомолов И. В., Кузнецова Е. В.
Заглавие : Рентгеноструктурный анализ веществ : Методические указания к лабораторной работе
Выходные данные : Липецк: Липецкий государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2010
Колич.характеристики :24 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 669.017
ББК : 34.5
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): анализ веществ--камера дебая--рентгеновский дифрактометр--рентгеноструктурный анализ
Аннотация: В методических указаниях приведены общие теоретические сведения о рентгеноструктурном анализе, методика определения вещества по данным о межплоскостных расстояниях, обработка полученных результатов, контрольные вопросы для сдачи лабораторной работы. Методические указания предназначены для студентов специальностей 150106.65 «Обработка металлов давлением», 150103.65 «Теплофизика, автоматизация, экология промышленных печей», 150702.65 «Физика металлов», 150105.65 «Металловедение и термическая обработка металлов».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

 
Статистика
за 01.07.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)