Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=рентгеновский луч<.>)

Общее количество найденных документов : 6
Показаны документы с 1 по 6

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 33636
Автор(ы) : Расовский М. Р., Русинов А. П.
Заглавие : История физики XX века : Учебное пособие
Выходные данные : Оренбург: Оренбургский государственный университет, ЭБС АСВ, 2014
Колич.характеристики :182 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 53
ББК : 22.3гя73
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): история физики--постулат энштейна--радиоактивность--рентгеновский луч--физическая лаборатория--электрон
Аннотация: Учебное пособие «История физики XX века» предназначено как для студентов, изучающих по программе бакалавриата курс истории физики, так и для будущих магистров, в программе обучения которых стоит курс «История и методология физики». Оно могло бы быть полезным и преподавателям соответствующих дисциплин. Учебное пособие предназначено для студентов направлений подготовки 011200 Физика и 011800 Радиофизика.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 20072
Автор(ы) : Анищик В. М., Понарядов В. В., Углов В. В.
Заглавие : Дифракционный анализ : Учебное пособие
Выходные данные : Минск: Вышэйшая школа, 2011
Колич.характеристики :215 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-985-06-1834-4: Б.ц.
УДК : 539.26
ББК : 22.344
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифракционный анализ--радиационное материаловедение--рентгеновский луч--рентгенотехника--структурный анализ
Аннотация: Рассмотрены основные положения физики рентгеновских лучей, рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического применения для исследования кристаллов. Для студентов, специализирующихся в области физики и химии конденсированного состояния, металлофизики и радиационного материаловедения. Может быть полезно аспирантам, инженерам и исследователям.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 99170
Автор(ы) : Чернышев А. П.
Заглавие : Введение в физику твердого тела и нанофизику. Специальный курс физики. Конспект лекций : Учебное пособие
Выходные данные : Новосибирск: Новосибирский государственный технический университет, 2019
Колич.характеристики :88 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7782-4048-3: Б.ц.
УДК : 539
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): квантовая механика--квантовая оптика--кристаллическая решетка--нанофизика--рентгеновский луч--твердое тело--физика
Аннотация: В настоящее время идет быстрое развитие элементной базы микроэлектроники. Элементная база изменяется на всех уровнях характерных размеров: от нанометровых элементов микроэлектроники, построенных с применением наночастиц, нанопроволоки и тонких пленок, до электронных компонентов с геометрическими размерами элементов порядка нескольких микрометров. Специальный курс физики позволяет познакомить студентов с основными физическими принципами, положенными в основу разработки и использования современной элементной базы микроэлектроники. Для этого студенты изучают соответствующие разделы квантовой механики, физики твердого тела и квантовой оптики. Настоящее пособие призвано помочь в изучении специального курса физики как на аудиторных занятиях, так и при самостоятельном изучении. Пособие предназначено для студентов МТФ, обучающихся по направлению 15.03.02 «Технологические машины и оборудование» и 15.03.05 «Конструкторско-технологическое обеспечение машиностроительных производств» дневной формы обучения.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 99159
Автор(ы) : Тарасова Н. В.
Заглавие : Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом : Методические указания к практическим занятиям по дисциплинам «Методы структурного анализа в материаловедении наносистем», «Методы диагностики и испытаний в нанотехнологиях»
Выходные данные : Липецк: Липецкий государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2019
Колич.характеристики :24 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 621.386
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): материаловедение--наносистема--нанотехнология--рентгеновский луч
Аннотация: Методические указания содержат теоретические сведения о физических основах процессов ослабления, поглощения и рассеяния рентгеновского излучения при взаимодействии с исследуемым веществом, примеры решения задач по расчету показателей ослабления и подбору селективно-поглощающих фильтров, задачи для самостоятельной работы. Предназначены для студентов профиля подготовки «Нанотехнологии и наноматериалы».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98165
Автор(ы) : Векилова Г. В., Иванов А. Н., Ягодкин Ю. Д.
Заглавие : Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов : Учебное пособие
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2009
Колич.характеристики :145 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-87623-228-1: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифракционный метод--кристаллография--кристаллохимия--микроскопический метод--наноматериал--рентгеновский луч--электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»).
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98841
Автор(ы) : Бублик В. Т., Мильвидский А. М.
Заглавие : Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия : Курс лекций
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2006
Колич.характеристики :93 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 62
ББК : 32.85
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефект--дифракционная теория--микроскопия--рентгеновская топограмма--рентгеновский луч--электроника
Аннотация: В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций. Необходимо особо отменить, что подобного курса лекций, отвечающего современному уровню и объему данного раздела, в числе читаемых для указанных специальностей в настоящее время не имеется. Предназначено для студентов 4 и 5 курсов специальностей 071000, 200100 и направлений 5516, 5507, 5531, а также аспирантов специализирующихся в области физики и технологии роста кристаллов по специальностям: 01.24.10, 05.27.06 и 05.27.01.
(для доступа требуется авторизация)

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 01.07.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)