Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=сканирующая микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 29567
Автор(ы) : Свириденок А. И., Свириденок А. И., Суханова Т. Е., Вылегжанина М. Э., Сантурян Ю. Г., Волков А. Я., Кутин А. А., Гофман И. В., Панарин Е. Ф., Толстихина А. Л., Гайнутдинов Р. В., Белугина Н. В., Трушин О. С., Куприянов А. В., Амиров И. И., Dzieciol A., Stelmachowski J., Nazaruk P., Rymuza Z., Abetkovskaia S., Pogotskaya I., Chizhik S. A., Баран Л. В., Ануфрик С. С., Игнатовский М. И., Сазонко Г. Г., Тарковский В. В., Кузнецова Т. А., Чижик С. А., Кравчук А. С., Ширяева Т. И., Судиловская К. А., Муравьева Т. И., Столярова О. О., Сачек Б. Я., Мезрин А. М., Загорский Д. Л., Сильванович Д. А., Ташлыков И. С., Белов Н. А., Ташлыкова-Бушкевич И. И., Яковенко Ю. С., Куликаускас В. С., Барайшук С. М., Шепелевич В. Г., Чумаков А. С., Горбачев И. А., Ермаков А. В., Ким В. П., Глуховской Е. Г., Башкиров С. А., Vylegzhanina M. E., Sukhanova T. E., Volkov A. Ya., Subbotina L. I., Svetlichnyi V. M., Губанова Г. Н., Кононова С. В., Лаврентьев В. К., Красковский А. Н., Гилевская К. С., Скопцов Е. А., Грачева Е. А., Куликовская В. И., Binhussain M. A. A., Мельникова Г. Б., Парибок И. В., Агабеков В. Е., Потапов А. Л., Иванова Н. А., Дайнеко О. А., Бен-Хусаин М., Карев Б. Д., Карев Д. Б., Константинова Е. Э., Цапаева Н. Л., Дрозд Е. С., Кужель Н. С., Мычко М. Е., Спиридонова О. С., Kukharenko L. V., Schimmel Th., Fuchs H., Barczewski M., Shman T. V., Tarasova A. V., Никитина И. А., Стародубцева М. Н., Грицук А. И., Стародубцев И. Е., Егоренков Н. И., Абетковская С. О., Лактюшина Т. В., Чикунов В. В., Билоконь С. А., Бондаренко М. А., Андриенко В. А., Бондаренко Ю. Ю., Яценко И. В., Брич М. А., Айзикович С. М., Кренев Л. И., Ханукаева Д. Ю., Калинин С. В., Филиппов А. Н., Иевлев А. В., Бузилов А. С.
Заглавие : Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии : Сборник докладов XI Международной конференции, Минск, 21–24 октября 2014 г.
Выходные данные : Минск: Белорусская наука, 2014
Колич.характеристики :188 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-985-08-1775-4: Б.ц.
УДК : 53.086
ББК : 22.338я43
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): зондовая микроскопия--сканирующая микроскопия
Аннотация: В сборнике представлены материалы ХI Международной конференции «Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии» (БелСЗМ-2014). Содержание докладов отражает последние достижения ученых Беларуси, России, Украины, Польши, Германии, США, Саудовской Аравии в развитии и применении методов сканирующей зондовой микроскопии для решения научных и технических задач, а также затрагивает фундаментальные и прикладные вопросы физики, химии и биологии. Адресуется научным сотрудникам, преподавателям, аспирантам и студентам физических, химических, медицинских, биологических и технических специальностей учреждений высшего образования.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 62179
Автор(ы) : Салахов А. М., Салахова Р. А.
Заглавие : Керамика. Исследование сырья, структура, свойства : Учебное пособие
Выходные данные : Казань: Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2013
Колич.характеристики :316 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7882-1480-1: Б.ц.
УДК : 72
ББК : 35.41
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): исследование сырья--керамика--нанокомпозит--нанопористый материал--сканирующая микроскопия--структура материала
Аннотация: Показана методика изучения гранулометрического и минерального составов сырья на базе различных месторождений. Проведены исследования с использованием современной сканирующей электронной микроскопии. Современными методами исследована поровая структура материалов. Показаны пути управления процессом структурообразования различных керамических материалов. Предназначено для студентов старших курсов, магистров и аспирантов по направлению подготовки 240100 «Химическая технология», преподавателей технологических специальностей вузов, а также для широкого круга инженерно-технических работников. Подготовлено на кафедре технологии неорганических веществ и материалов.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 45104
Автор(ы) : Филимонова Н. И., Кольцов Б. Б.
Заглавие : Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I: Учебное пособие. Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I
Выходные данные : : Новосибирский государственный технический университет Б.м., 2013
Колич.характеристики :134 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7782-2158-1: Б.ц.
УДК : 621.385
ББК : 32.85
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроэлектронный материал--наноэлектронная структура--сканирующая микроскопия--зондовая микроскопия
Аннотация: Пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 222900 «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Экспериментальные методы исследования и метрология», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем», и студентов, обучающихся по направлению 210100 «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».
(для доступа требуется авторизация)

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 26.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)