Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=ширина зоны<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 45125
Автор(ы) : Величко А. А., Кольцов Б. Б.
Заглавие : Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии : Учебно-методическое пособие
Выходные данные : Новосибирск: Новосибирский государственный технический университет, 2012
Колич.характеристики :28 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7782-1924-3: Б.ц.
УДК : 535.33
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): запрещенная зона--определение толщины--полупроводник--фурье-спектрометр--ширина зоны--эпитаксиальный слой
Аннотация: Дано краткое описание способа измерения ширины запрещенной зоны и толщины гетероэпитаксиальных узкозонных полупроводников методом определения спектральных зависимостей коэффициентов поглощения и отражения на ИК Фурье-спектрометре. В работе кратко изложена теория механизмов поглощения и отражения в полупроводниках. Дано описание ИК Фурье- спектрометра Nicolet 6700, изложена методика проведения эксперимента и обработки экспериментальных данных. Приведены контрольные вопросы и список рекомендованной литературы.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

 
Статистика
за 03.07.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)