Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>K=экспериментальная апробация<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 65814
Автор(ы) : Скалецкая И. Е., Прокопенко В. Т., Скалецкий Е. К.
Заглавие : Введение в прикладную эллипсометрию. Часть 3. Эллипсометрия проходящего света: Учебное пособие по курсу «Оптико-физические измерения». Введение в прикладную эллипсометрию. Часть 3. Эллипсометрия проходящего света
Выходные данные : : Университет ИТМО Б.м., 2014
Колич.характеристики :106 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-906332-27-1: Б.ц.
УДК : 535
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): эллипсометрия--проходящий свет--отраженный свет--экспериментальная апробация--слоистая система
Аннотация: Учебное пособие рассчитано на студентов и аспирантов оптических специальностей высшей школы по направлениям «Техническая физика» (223200), «Лазерная техника и лазерные технологии» (200500) и имеет следующие практические цели: 1) ознакомление с принципами экспериментальной работы на приборах ручного управления типа ноль-эллипсометров серии лазерных эллипсофотометров марки ЛЭФ-2, 3М, начиная с методов юстировки и калибровки до измерений и обработки первичных данных; 2) пополнение банка данных измерениями новых оптических систем в проходящем и отражённом свете всевозможных веществ и изделий – объектов измерений (ОИ); 3) освоение методик прецизионных измерений амплитудно-фазовых (Ψφ , Δφ) характеристик поля световой волны после взаимодействия с исследуемым веществом при косом падении (00 φ 900) методами их многоугловых развёрток; 4) ознакомление с программным обеспечением компьютерной обработки первичной измерительной информации и модельных оценок косвенно измеряемых оптических параметров (d, n, k) исследуемых материалов на примере тест систем ОИ. В тест-системах пособия рассмотрены аналитические свойства решений основного уравнения эллипсометрии (ОУЭ) Друде, вопросы их математической корректности и физической адекватности свойствам ОИ. Во главу угла логического рассмотрения положено явление эффекта Брюстера и описывающие его законы.
(для доступа требуется авторизация)

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 03.07.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)