Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Найдено в других БД:

Электронный каталог (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=электронная микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 9
Показаны документы с 1 по 9

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 69545
Автор(ы) : Филимонова Н. И., Величко А. А., Фадеева Н. Е.
Заглавие : Методы электронной микроскопии : Учебное пособие
Выходные данные : Новосибирск: Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016
Колич.характеристики :61 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 62
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): линза--микроскоп--пэм--сэм--электронная микроскопия--электронный пучок
Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 57256
Заглавие : Выполнение расчетно-графической работы по теме «Растровая электронная микроскопия» : Учебно-методическое пособие
Выходные данные : Саратов: Вузовское образование, 2017
Колич.характеристики :41 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 531
ББК : 32.84
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): твердое тело--топология поверхности--физика--электронная микроскопия
Аннотация: Учебно-методическое пособие по выполнению расчетно-графической работы по теме «Растровая электронная микроскопия» подготовлено для бакалавров и магистров инженерно-физических направлений подготовки высшего профессионального образования, изучающих дисциплины «Экспериментальные методы физики твердого тела» и «Теоретические и экспериментальные методы физики твердого тела». В данном учебно-методическом пособии рассматриваются физические основы метода растровой электронной микроскопии и его применение для исследования топографии и состояния поверхности. Учебно-методическое пособие содержит указания по исследованию топологии поверхности: границ зерен, пор, трещин, неоднородности состава и пр. Пособие также будет интересно аспирантам и молодым ученым естественнонаучного блока при проведении научно-исследовательской работы, а также студентам при выполнении НИРС. Пособие подготовлено в рамках работ по гранту АмГУ.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 58198
Автор(ы) : Архипова Т. В., Коничев В. С., Стволинская Н. С.
Заглавие : Руководство к практическим занятиям по цитологии : Методическое пособие для бакалавров по направлению подготовки «Педагогическое образование и биология»
Выходные данные : Москва: Прометей, 2016
Колич.характеристики :56 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-9907123-1-7: Б.ц.
УДК : 576
ББК : 28.0
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): биология--световая микроскопия--цитология--электронная микроскопия
Аннотация: Настоящее пособие предназначено для студентов, преподавателей и технического персонала в качестве методического руководства при подготовке и проведении лабораторных и практических занятий по цитологии со студентами – бакалаврами по направлению подготовки «Педагогическое образование и биология». Лабораторные занятия проводятся на основе сочетания методов световой и электронной микроскопии. Целью лабораторных занятий является подробное изучение морфологии клеток, их химического состава, функциональной активности внутриклеточных структур, процессов деления клеток и гаметогенеза. В проведении занятий осуществляется последовательность этапов: опрос студентов, краткое объяснение преподавателя, указания для проведения самостоятельной лабораторной работы и задания для подготовки к следующему занятию. В пособии описаны 18 практических занятий в соответствии с рабочей программой дисциплины «Цитология». В результате прохождения курса практических занятий студенты закрепляют теоретические знания и получают устойчивые навыки анализа цитологических препаратов с помощью световой и электронной микроскопии.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 68146
Автор(ы) : Федоров А. В., Федоров А. В., Баранов А. В., Литвин А. П., Черевков С. А.
Заглавие : Специальные методы измерения физических величин : Учебное пособие
Выходные данные : Санкт-Петербург: Университет ИТМО, 2014
Колич.характеристики :130 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 530
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): атомно-силовая микроскопия--изучение наноструктуры--метод измерения--нанолитография--оптическая спектроскопия--рентгеновская спектроскопия--туннельная микроскопия--физическая величина--экспериментальный метод--электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассматриваются современные экспериментальные методы изучения наноструктур, включая электронную и атомно-силовую микроскопию, рентгеновскую спектроскопию, а также стационарную и нестационарную оптическую спектроскопию. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200700 «Фотоника и оптоинформатика» в рамках Магистерской программы 200700.68 «Физика наноструктур» для изучения дисциплины «Специальные методы измерения физических величин». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей, а также при подготовке магистров и аспирантов, специализирующихся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 18391
Автор(ы) : Белихов А. Б., Белкин П. Н.
Заглавие : Основы практической металлографии : Учебное пособие
Выходные данные : Саратов: Вузовское образование, 2013
Колич.характеристики :56 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 53
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): практическая металлография--световая микроскопия--электронная микроскопия
Аннотация: Данное пособие предназначено для студентов физико-математических факультетов университетов, обучающихся по специализации «Физическое материаловедение». Основное внимание уделено методам световой микроскопии и методике подготовки шлифов изучаемых металлов. Кратко описана суть электронной микроскопии, рентгеновского анализа и других методов изучения и контроля структуры материалов.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 68194
Автор(ы) : Баранов А. В., Баранов А. В., Виноградова Г. Н., Воронин Ю. М., Ермолаева Г. М., Парфенов П. С., Шилов В. Б.
Заглавие : Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью : Учебное пособие
Выходные данные : Санкт-Петербург: Университет ИТМО, 2009
Колич.характеристики :191 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 535
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): атомно-силовая микроскопия--кривая шапиро--лазерная техника--лазерный импульс--люминесцентная микроскопия--оптическая микроскопия--пониженная размерность--техника эксперимента--физический эксперимент--электронная микроскопия
Аннотация: Рассматриваются методы и техника исследования и диагностики наноразмерных объектов, включая электронную, атомно-силовую микроскопию, различные варианты люминесцентной микроскопии и техники КР, ближнепольную оптическую микроскопию, а также лазерную технику, используемую в физических экспериментах. Учебное пособие предназначено для обучения магистров по направлению 200600 Фотоника и оптоинформатика для изучения дисциплины «Оптика наноструктур». Материал может быть рекомендован для студентов старших курсов физико-технических специальностей, а также при подготовке магистров и аспирантов, специализирующихся в области применения оптических методов в нанотехнологиях.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 63529
Автор(ы) : Лыгина Т. З., Михайлова О. А.
Заглавие : Физико-химические и адсорбционные методы исследования неорганических природных минеральных сорбентов : Учебное пособие
Выходные данные : Казань: Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2009
Колич.характеристики :79 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7882-0682-0: Б.ц.
УДК : 543
ББК : 24.4
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): адсорбционный метод--инфракрасная спектроскопия--минеральный сорбент--порометрия--термический анализ--фазовый анализ--химический анализ--электронная микроскопия
Аннотация: Всесторонне изложен рекомендуемый комплекс физико-химических и адсорбционных методов исследования сорбентов. Дана общая характеристика неорганических природных минеральных сорбентов. Предназначено для студентов всех форм обучения, обучающихся по специальностям 240304 «Химическая технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов» и 240301 «Химическая технология неорганических веществ», изучающих дисциплины «Сырьевые ресурсы химической технологии», «Химическая технология тугоплавких неметаллических и силикатных материалов», «Химическая технология неорганических веществ».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 87446
Автор(ы) : Яловега Г. Э., Шматко В. А., Фуник А. О., Невзорова Н. М.
Заглавие : Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов: исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии : Монография
Выходные данные : Ростов-на-Дону, Таганрог: Издательство Южного федерального университета, 2017
Колич.характеристики :156 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-9275-2415-0: Б.ц.
УДК : 539.2
ББК : 30.36
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кремниевая матрица--металлооксидная наноструктура--нанокомпозит--нанокомпозитная пленка--оксид 3d-металла--рентгеновская дифрактометрия--рентгеновская спектроскопия--углеродная матрица--электронная микроскопия
Аннотация: Монография посвящена результатам исследования морфологии, структуры и физико-химических свойств нанокомпозитных материалов на основе оксидов 3d-металлов с углеродной и кремниевой матрицами. Адресована специалистам, работающим в области рентгеновской спектроскопии, материаловедения и смежных специальностей. Может быть полезна аспирантам и студентам, обучающимся по направлениям «Физика», «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Материаловедение». Результаты исследований, приведенные в монографии, были получены при поддержке гранта Южного федерального университета ВнГр-07/2017-30 и гранта Министерства образования и науки Российской Федерации №11.2432.2014/K.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98165
Автор(ы) : Векилова Г. В., Иванов А. Н., Ягодкин Ю. Д.
Заглавие : Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов : Учебное пособие
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2009
Колич.характеристики :145 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-87623-228-1: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифракционный метод--кристаллография--кристаллохимия--микроскопический метод--наноматериал--рентгеновский луч--электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»).
(для доступа требуется авторизация)

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 03.07.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)