Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

в найденном

Найдено в других БД:

Электронный каталог (31)

Систематический имидж-каталог (44)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>U=548<.>)

Общее количество найденных документов : 30
Показаны документы с 1 по 10

1-10 11-20 21-30

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98676
Автор(ы) : Батаев И. А., Батаев А. А., Веселов С. В.
Заглавие : Кристаллография. Индицирование граней и ребер кристаллов : Учебное пособие
Выходные данные : Новосибирск: Новосибирский государственный технический университет, 2019
Колич.характеристики :118 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7782-3870-1: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): грань--координатная система--кристаллография--материал--пространственная решетка--ребро
Аннотация: Отражены особенности кристаллического строения материалов. Обоснована необходимость использования специальных кристаллографических координатных систем. Приведена характеристика кристаллографических категорий и кристаллографических систем (сингоний). Показана значимость закона Гаюи (о рациональности отношений параметров граней кристаллов). Приведены особенности символьного представления ребер и плоскостей кристаллов. Дан вывод теоретически возможных граней методом развития зон. Представлен метод сложения символов граней (компликационное правило Гольдшмидта). Описан закон зон (поясов) Вейсса.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 91266
Автор(ы) : Батаев И. А., Батаев А. А., Лазуренко Д. В.
Заглавие : Кристаллография. Методы проецирования кристаллов : Учебное пособие
Выходные данные : Новосибирск: Новосибирский государственный технический университет, 2017
Колич.характеристики :72 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7782-3286-0: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): задача--кристалл--кристаллография--метод--сферическая проекция
Аннотация: Даны представления о типах пространственных задач, характерных для кристаллографии. Описаны методы сферического, стереографического, гномостереографического и гномонического проецирования кристаллов, проведено их сравнение. Приведены примеры проецирования граней различного типа. Описано решение кристаллографических задач с использованием сетки Г.В. Вульфа.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 91378
Автор(ы) : Батаев И. А., Батаев А. А.
Заглавие : Кристаллография. Обозначение и вывод классов симметрии : Учебное пособие
Выходные данные : Новосибирск: Новосибирский государственный технический университет, 2015
Колич.характеристики :60 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7782-2740-8: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кристалл--кристаллография--осевая теорема--симметрия--точечная группа
Аннотация: Рассмотрены обозначения точечных групп симметрии по Браве, по А. Шёнфлису и в соответствии с международной классификацией Германа – Могена. Проанализированы правила взаимодействия элементов симметрии в виде осевой теоремы Эйлера, ее частных проявлений и следствий. Представлен вывод классов симметрии для кристаллов с единичными направлениями, а также для кристаллов без единичных направлений.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 91379
Автор(ы) : Батаев И. А., Батаев А. А.
Заглавие : Кристаллография. Формы кристаллических многогранников : Учебное пособие
Выходные данные : Новосибирск: Новосибирский государственный технический университет, 2016
Колич.характеристики :67 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7782-2888-7: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): комбинационный многогранник--кристалл--кристаллический многогранник--кристаллография--простая форма
Аннотация: Даны определения различных типов простых форм кристаллических многогранников. Проведен анализ 47 форм, участвующих в огранке кристаллов низшей, средней и высшей категории. Описаны правила наименования простых форм, соответствующих кристаллам кубической сингонии. Приведены примеры комбинационных многогранников, сочетающих несколько типов простых форм. Описаны особенности естественной огранки реальных кристаллов. Представлена характеристика процессов двойникования и эпитаксиального нарастания на кристаллах.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 84366
Автор(ы) : Бойко С. В.
Заглавие : Кристаллография и минералогия. Основные понятия : Учебное пособие
Выходные данные : Красноярск: Сибирский федеральный университет, 2015
Колич.характеристики :212 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7638-3223-5: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 26.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): геология--кристаллогенезис--кристаллография--кристаллооптика--минералогия
Аннотация: Дано понятие о правильных кристаллических многогранниках, их симметрии, ее элементах и преобразованиях, кристаллографической системе координат. Обозначены общие закономерности образования, роста и растворения кристаллов, приведены наиболее распространенные формы минеральных индивидов и минеральных агрегатов. Показана суть кристаллооптического метода диагностики минералов. Раскрыто содержание основных понятий минералогии, приведен краткий очерк ее истории, классификация процессов минералообразования и охарактеризован каждый из них. Рассмотрены общие положения оценки внутреннего строения минералов и даны описания их наиболее распространенных в земной коре классов. Предназначено для студентов вузов, обучающихся по специализации «Геология нефти и газа» специальности 130101 «Прикладная геология».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98065
Автор(ы) : Бублик В. Т., Щербачев К. Д.
Заглавие : Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур : Учебное пособие
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2001
Колич.характеристики :100 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 548
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): деформация--дифракционный метод--поверхностный слой--приборная структура--рентгеновское излучение
Аннотация: Содержание предлагаемого пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому в качестве спецкурса студентам специальности 071000 «Материаловедение и новые технологии». В нем кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассматриваемой в качестве основного инструментального метода. Показана связь деформаций в сложных многослойных структурах с измеряемыми рентгенодифрактометрическими методами характеристиками: средними деформациями, усредненными по толщине гетероструктуры, профилями деформации, кривизной. Пособие по этой тематике издается впервые. Необходимость издания определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98165
Автор(ы) : Векилова Г. В., Иванов А. Н., Ягодкин Ю. Д.
Заглавие : Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов : Учебное пособие
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2009
Колич.характеристики :145 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-87623-228-1: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифракционный метод--кристаллография--кристаллохимия--микроскопический метод--наноматериал--рентгеновский луч--электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»).
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 56275
Автор(ы) : Диденко И. С., Гераськин В. В.
Заглавие : Кристаллофизика. Симметрия кристаллических многогранников : Лабораторный практикум
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2011
Колич.характеристики :76 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кристаллический многогранник--кристаллофизика--симметрия
Аннотация: Лабораторный практикум содержит материал, необходимый для подготовки и проведения лабораторных работ по курсу «Кристаллофизика». Подробно изложен материал, связанный с проектированием и индицированием кристаллических многогранников, который вызывает наибольшие трудности у студентов. В процессе выполнения лабораторных работ студенты приобретают навыки определения элементов симметрии, построения стереографических и гномостереографических проекций и индицирования граней и ребер кристаллических многогранников. Предназначен для студентов, обучающихся по направлениям 210100 «Электроника и наноэлектроника», 150100 «Материаловедение и технологии материалов».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 56590
Автор(ы) : Диденко И. С., Диденко И. С., Козлова Н. С., Кугаенко О. М., Петраков В. С.
Заглавие : Физика реального кристалла : Лабораторный практикум
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2013
Колич.характеристики :76 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-87623-747-7: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефект--реальный кристалл--физика
Аннотация: Лабораторный практикум включает в себя материал, необходимый для подготовки и проведения лабораторных работ по дисциплине «Физика реального кристалла». Изложены основы теории изучаемых явлений, описание аппаратуры и методик измерения. Цель лабораторного практикума – приобретение студентами практических навыков исследования механических и электрофизических свойств кристаллов, определения концентрации точечных дефектов в кристаллах оптическим методом и влияния точечных дефектов на оптические свойства кристаллов. В процессе выполнения лабораторных работ студенты осваивают методики измерения микротвердости, микрохрупкости, электропроводности и спектров поглощения диэлектрических кристаллов, а также приобретают навыки определения величин, характеризующих дефекты в кристаллах, в том числе определение концентрации точечных дефектов. Лабораторный практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлениям подготовки магистров 223200.68 «Техническая физика», 150100.68 «Материаловедение и технологии материалов».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 68261
Автор(ы) : Жукова Л. В., Корсаков А. С., Врублевский Д. С.
Заглавие : Новые инфракрасные материалы: кристаллы и световоды : Монография
Выходные данные : Екатеринбург: Уральский федеральный университет, ЭБС АСВ, 2014
Колич.характеристики :280 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7996-1357-0: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): инфракрасный материал--кристалл--световод--серебро--таллий
Аннотация: В монографии представлены сведения об изучении свойств и синтезе новых кристаллов на основе твердых растворов галогенидов серебра и одновалентного таллия, из которых получают методом экструзии уникальные по оптико-механическим свойствам световоды для среднего ИК-диапазона. Изготовлено оборудование для получения сырья и выращивания кристаллов. Монография будет полезна студентам, аспирантам, инженерно-техническим работникам, занимающимися вопросами получения ИК-световодов и волоконной оптики.
(для доступа требуется авторизация)

1-10 11-20 21-30

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 09.07.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)