Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Электронный каталог (31)Систематический имидж-каталог (44)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=548<.>)
Общее количество найденных документов : 30
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30  
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98075
Автор(ы) : Розин К. М.
Заглавие : Кристаллография и кристаллохимия: описание кристаллических структур с помощью Международных кристаллографических таблиц : Учебное пособие
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2001
Колич.характеристики :87 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 548
ББК : 24.5
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): атомная структура--кристаллическая структура--кристаллография--кристаллохимия--симметрия
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены основные современные методы описания любых кристаллических структур, объединенные в Международные Кристаллографические Таблицы (МКТ) и отвечающие требованиям действующего Международного Стандарта. Пособие содержит многочисленные примеры применения МКТ для описания различных кристаллических структур, а также домашние задания и упражнения, которые могут быть использованы в курсах: кристаллофизики, кристаллографии и кристаллохимии, физики твердого тела, физики полупроводников и др. Пособие предназначено студентам всех специальностей факультета полупроводниковых материалов и приборов, а также для специальностей 1105.02 и 1108.00.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98065
Автор(ы) : Бублик В. Т., Щербачев К. Д.
Заглавие : Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур : Учебное пособие
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2001
Колич.характеристики :100 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 548
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): деформация--дифракционный метод--поверхностный слой--приборная структура--рентгеновское излучение
Аннотация: Содержание предлагаемого пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому в качестве спецкурса студентам специальности 071000 «Материаловедение и новые технологии». В нем кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассматриваемой в качестве основного инструментального метода. Показана связь деформаций в сложных многослойных структурах с измеряемыми рентгенодифрактометрическими методами характеристиками: средними деформациями, усредненными по толщине гетероструктуры, профилями деформации, кривизной. Пособие по этой тематике издается впервые. Необходимость издания определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98115
Автор(ы) : Кузнецов Г. Д., Сушков В. П., Ованесов А. Е.
Заглавие : Определение параметров гетероструктур, используемых в оптоэлектронике : Лабораторный практикум
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2002
Колич.характеристики :41 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 548
ББК : 32.85
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): гетероструктура--излучающий диод--оптоэлектроника--светодиод--светофильтр--фотодиод
Аннотация: Практикум состоит из пяти лабораторных работ, выполнение которых позволит получить достаточно полное представление о свойствах гетероструктур, используемых в оптоэлектронике. В каждом описании к лабораторной работе дается краткое рассмотрение теории и технологии изготовления гетероструктур, что закрепляет знания студентов, полученные в лекционных курсах. Настоящий лабораторный практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлению 550700 для изучения курсов «Основы высоких технологий», «Физико-химические основы многослойных гетероструктур», «Конструирование компонентов и элементов микроэлектроники».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 56274
Автор(ы) : Розин К. М., Петраков В. С.
Заглавие : Кристаллофизика : Учебное пособие
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2006
Колич.характеристики :248 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кристаллография--кристаллофизика--метод
Аннотация: Приводится систематическое изложение важнейших понятий и практических методов кристаллографии и кристаллохимии, начиная с классических методик определения символов атомных рядов и атомных плоскостей в кристаллах и завершая новейшими методиками описания эпитаксиальных кристаллических структур и атомных дефектов реальных кристаллов. В отличие от большинства изданий указанного направления, носящих сугубо теоретический характер, данное учебное пособие характеризуется практической направленностью и использованием различных форм активизации учебного процесса. Детально рассматриваются возможные атомные механизмы некоторых фазовых (полиморфных) переходов, что способствует активному усвоению важнейших понятий учебной дисциплины. Предназначено для студентов, обучающихся по направлениям 651700 «Физическое материаловедение, технология материалов и покрытий», 550700 «Электроника и микроэлектроника», 553100 «Техническая физика».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98151
Автор(ы) : Ягодкин Ю. Д., Свиридова Т. А.
Заглавие : Атомное строение фаз. Кристаллохимия твердых растворов и промежуточных фаз. Структура аморфных, квазикристаллических и нанокристаллических материалов : Курс лекций
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2007
Колич.характеристики :107 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 548
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): аморфный материал--кристаллохимия--промежуточная фаза--сплав--твердый раствор--термодинамика
Аннотация: Рассмотрены структура твердых растворов, факторы, определяющие растворимость в первичных твердых растворах, термодинамика их образования, процессы атомного упорядочения. Проведен кристаллохимический анализ часто встречающихся промежуточных фаз, включая условия их образования и особенности атомного строения. Подробно рассмотрена структура аморфных, квазикристаллических и нанокристаллических материалов. Курс лекций рекомендован студентам, обучающимся по специальностям 210602 «Наноматериалы» и 150702 «Физика металлов».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 56277
Автор(ы) : Николаев А. А.
Заглавие : Кристаллофизика минералов : Практикум
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2009
Колич.характеристики :45 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-87623-255-7: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кристаллический многогранник--кристаллофизика--минерал--симметрия
Аннотация: Практикум состоит из предисловия, шести разделов и приложений. В первом разделе рассматриваются теоретические аспекты и методики установления элементов симметрии, категории и сингонии кристаллических многогранников. Последующие разделы посвящены рассмотрению физических свойств минералов руд черных, цветных, редких металлов и минералов силикатов. Каждый раздел состоит из теоретического введения, методик и примеров решений характерных задач, заданий и контрольных вопросов. Предназначен для студентов очно-заочной (вечерней) формы обучения специальности 150102 «Металлургия цветных металлов» по направлению подготовки бакалавров 150100 «Металлургия» для проведения практических занятий и самостоятельной работы. Может быть полезен студентам других технологических специальностей.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

7.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98165
Автор(ы) : Векилова Г. В., Иванов А. Н., Ягодкин Ю. Д.
Заглавие : Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов : Учебное пособие
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2009
Колич.характеристики :145 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-87623-228-1: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дифракционный метод--кристаллография--кристаллохимия--микроскопический метод--наноматериал--рентгеновский луч--электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»).
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

8.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 47135
Автор(ы) : Куприянов М. Ф., Куприянов М. Ф., Рудская А. Г., Кофанова Н. Б., Кабиров Ю. В., Разумная А. Г.
Заглавие : Современные методы структурного анализа веществ : Учебник
Выходные данные : Ростов-на-Дону: Южный федеральный университет; Ростов-на-Дону: Издательство Южного федерального университета, 20092009
Колич.характеристики :288 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-9275-0653-8: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кристаллография--кристаллохимия--рентгенография--структурный анализ--физика--химия
Аннотация: В учебнике подробно рассмотрены основы структурной кристаллографии и кристаллохимии, физика дифракции рентгеновских лучей, нейронов и электронов, анализа атомного строения веществ. Особое внимание уделено достоверности и точности результатов структурного анализа. Учебник может быть использован при подготовке студентов и аспирантов физических, химических, геологических, биологических и материаловедческих специальностей, а также инженерами и научными работниками, занимающимися разработкой новых материалов различного применения.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

9.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 47175
Автор(ы) : Поплавко Ю. М., Переверзева Л. П., Раевский И. П.
Заглавие : Физика активных диэлектриков : Учебное пособие
Выходные данные : Ростов-на-Дону: Южный федеральный университет; Ростов-на-Дону: Издательство Южного федерального университета, 20092009
Колич.характеристики :480 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-9275-0636-1: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): активные диэлектрики--поляризация--физика--электропроводность
Аннотация: Рассматриваются современные представления о поляризации, электропроводности, диэлектрических потерях, электрической прочности и фазовых переходах в диэлектриках, а также о новых физических явлениях в этих веществах. Особое внимание уделяется свойствам активных диэлектриков – сегнетоэлектриков, пироэлектриков, пьезоэлектриков, электретов и СВЧ диэлектриков. Представлены сведения о влиянии структуры на свойства активных диэлектриков, а также примеры современных и перспективных применений данных материалов. Некоторые из рассмотренных вопросов ранее в учебной и монографической литературе не освещались. Пособие составлено на основе многолетнего опыта авторов по чтению лекций по рассмотренным в книге вопросам, а также с использованием многочисленных публикаций авторов в области пьезоэлектриков, пироэлектриков и сегнетоэлектриков. Рекомендуется для студентов электронных, радиотехнических и радиофизических специальностей вузов, аспирантов и инженеров соответствующих специальностей.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 46988
Автор(ы) : Новгородова М. И.
Заглавие : Кристаллохимия природных полиморфов углерода: от графита до графена : Монография
Выходные данные : Ростов-на-Дону: Южный федеральный университет; Ростов-на-Дону: Издательство Южного федерального университета, 20092009
Колич.характеристики :120 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-9275-0696-5: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 24.5
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кристаллохимия--природный полиморф--углерод--химия
Аннотация: В монографии обобщаются результаты исследований разнообразных форм существования твердого углеродистого вещества – от тонкодисперсного рассеянного в терригенных толщах до сконцентрированного вплоть до залежей и скоплений графита, шунгита, угля. Рассматриваются структурное состояние и химический состав углеродистого вещества. Практическое значение для прогноза рудной минерализации имеют детально рассматриваемые минеральные парагенезисы углерода в различных типах минерализованных пород. Книга как первое крупное научное обобщение минералогии и геохимии углерода полезна для научных исследователей, аспирантов, студентов.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

 1-10    11-20   21-30  
 
Статистика
за 09.07.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)