Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
в найденном
 Найдено в других БД:Электронный каталог (31)Систематический имидж-каталог (44)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=548<.>)
Общее количество найденных документов : 30
Показаны документы с 1 по 10
 1-10    11-20   21-30  
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 92700
Заглавие : Кристаллография и минералогия : Лабораторный практикум
Выходные данные : Ставрополь: Северо-Кавказский федеральный университет, 2018
Колич.характеристики :129 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кристаллография--ленточный силикат--микроскоп--минералогия--морфология минерала--самородный элемент--симметрия кристалла--сингония--систематика минералов--форма кристалла
Аннотация: Пособие представляет собой материал для проведения лабораторных работ по одноименной дисциплине. Лабораторная работа включает цель, формируемые компетенции, теоретическую часть изучаемой темы, оборудование и материалы, указания по технике безопасности, задания, форму отчета и рекомендуемую литературу. Предназначено для студентов, обучающихся по специальности 21.05.02 Прикладная геология, специализации «Геология нефти и газа». Квалификация выпускника - горный инженер-геолог.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 92231
Автор(ы) : Ивлева И. А., Панова О. А.
Заглавие : Минералогия и кристаллография: лабораторный практикум : Учебное пособие
Выходные данные : Белгород: Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова, ЭБС АСВ, 2018
Колич.характеристики :123 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 548
ББК : 26.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): горная порода--кристаллография--магматическая порода--минералогия--петрография--плеохроизм--рост кристалла--свойство минерала--спайность--форма кристалла
Аннотация: В лабораторном практикуме представлены основные сведения по геометрической и физической кристаллографии, минералогии, петрографии и технической петрографии. В разделе «Минералогия» изложена информация о свойствах, морфологии, условиях образования минералов, дано их описание. Раздел «Петрография» содержит сведения о магматических, осадочных и метаморфических горных породах. В разделе «Техническая петрография» описаны основные кристаллооптические свойства минералов и методики работы с поляризационным микроскопом. Лабораторный практикум предназначен для студентов направления 18.03.01 - Химическая технология профилей подготовки «Химическая технология вяжущих и композиционных материалов», «Химическая технология стекла и керамики». Данное издание публикуется в авторской редакции.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 84366
Автор(ы) : Бойко С. В.
Заглавие : Кристаллография и минералогия. Основные понятия : Учебное пособие
Выходные данные : Красноярск: Сибирский федеральный университет, 2015
Колич.характеристики :212 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7638-3223-5: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 26.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): геология--кристаллогенезис--кристаллография--кристаллооптика--минералогия
Аннотация: Дано понятие о правильных кристаллических многогранниках, их симметрии, ее элементах и преобразованиях, кристаллографической системе координат. Обозначены общие закономерности образования, роста и растворения кристаллов, приведены наиболее распространенные формы минеральных индивидов и минеральных агрегатов. Показана суть кристаллооптического метода диагностики минералов. Раскрыто содержание основных понятий минералогии, приведен краткий очерк ее истории, классификация процессов минералообразования и охарактеризован каждый из них. Рассмотрены общие положения оценки внутреннего строения минералов и даны описания их наиболее распространенных в земной коре классов. Предназначено для студентов вузов, обучающихся по специализации «Геология нефти и газа» специальности 130101 «Прикладная геология».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 91379
Автор(ы) : Батаев И. А., Батаев А. А.
Заглавие : Кристаллография. Формы кристаллических многогранников : Учебное пособие
Выходные данные : Новосибирск: Новосибирский государственный технический университет, 2016
Колич.характеристики :67 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7782-2888-7: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): комбинационный многогранник--кристалл--кристаллический многогранник--кристаллография--простая форма
Аннотация: Даны определения различных типов простых форм кристаллических многогранников. Проведен анализ 47 форм, участвующих в огранке кристаллов низшей, средней и высшей категории. Описаны правила наименования простых форм, соответствующих кристаллам кубической сингонии. Приведены примеры комбинационных многогранников, сочетающих несколько типов простых форм. Описаны особенности естественной огранки реальных кристаллов. Представлена характеристика процессов двойникования и эпитаксиального нарастания на кристаллах.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 94346
Автор(ы) : Мордасов Д. М., Строкова В. В., Жерновский И. В.
Заглавие : Кристаллография : Учебное пособие
Выходные данные : Тамбов: Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2018
Колич.характеристики :80 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-8265-1995-0: Б.ц.
УДК : 548
ББК : В37
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефект кристалла--кристаллическое вещество--кристаллография--пространственная решётка--решётка браве--структура кристалла--форма кристалла--формула вульфа-брегга
Аннотация: Рассмотрены основы классической кристаллографии. Приведены методы описания кристаллических структур, методы построения стереографических проекций. Включены практические занятия, способствующие закреплению теоретического материала. Знакомит студентов с разнообразием кристаллографических форм, особенностями применения метода кристаллографического индицирования для описания кристаллических многогранников и структур, с основами стереографического проектирования кристаллических многогранников и их элементов симметрии. Является составной частью общеинженерного курса «Материаловедение» для студентов технических специальностей по дисциплине «Кристаллография». Предназначено для студентов бакалавриата, обучающихся по направлению 22.03.01 «Материаловедение и технологии материалов».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 84331
Автор(ы) : Подкопаев О. И., Шиманский А. Ф., Павлюк Т. О.
Заглавие : Выращивание монокристаллов германия с контролируемыми структурой, содержанием примесей и оптическими свойствами : Монография
Выходные данные : Красноярск: Сибирский федеральный университет, 2017
Колич.характеристики :152 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7638-3585-4: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): германий--кислород--контейнерный материал--монокристалл--оптическое свойство
Аннотация: Обобщен экспериментальный материал отечественных и зарубежных ученых по проблеме получения монокристаллов германия с контролируемыми структурой, составом и оптическими свойствами. Представлены собственные результаты авторов по выращиванию малодислокационных и особо чистых кристаллов германия, разработке новых контейнерных материалов, исследованию поведения кислорода в германии и его влияния на структурное совершенство и свойства монокристаллов. Предназначена для студентов, обучающихся по направлениям «Материаловедение и технологии материалов», «Химическая технология монокристаллов, материалов и изделий электронной техники», а также специалистов, занимающихся изучением и производством полупроводников.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

7.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 91266
Автор(ы) : Батаев И. А., Батаев А. А., Лазуренко Д. В.
Заглавие : Кристаллография. Методы проецирования кристаллов : Учебное пособие
Выходные данные : Новосибирск: Новосибирский государственный технический университет, 2017
Колич.характеристики :72 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7782-3286-0: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): задача--кристалл--кристаллография--метод--сферическая проекция
Аннотация: Даны представления о типах пространственных задач, характерных для кристаллографии. Описаны методы сферического, стереографического, гномостереографического и гномонического проецирования кристаллов, проведено их сравнение. Приведены примеры проецирования граней различного типа. Описано решение кристаллографических задач с использованием сетки Г.В. Вульфа.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

8.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 91378
Автор(ы) : Батаев И. А., Батаев А. А.
Заглавие : Кристаллография. Обозначение и вывод классов симметрии : Учебное пособие
Выходные данные : Новосибирск: Новосибирский государственный технический университет, 2015
Колич.характеристики :60 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
ISBN, Цена 978-5-7782-2740-8: Б.ц.
УДК : 548
ББК : 22.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): кристалл--кристаллография--осевая теорема--симметрия--точечная группа
Аннотация: Рассмотрены обозначения точечных групп симметрии по Браве, по А. Шёнфлису и в соответствии с международной классификацией Германа – Могена. Проанализированы правила взаимодействия элементов симметрии в виде осевой теоремы Эйлера, ее частных проявлений и следствий. Представлен вывод классов симметрии для кристаллов с единичными направлениями, а также для кристаллов без единичных направлений.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

9.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98115
Автор(ы) : Кузнецов Г. Д., Сушков В. П., Ованесов А. Е.
Заглавие : Определение параметров гетероструктур, используемых в оптоэлектронике : Лабораторный практикум
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2002
Колич.характеристики :41 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 548
ББК : 32.85
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): гетероструктура--излучающий диод--оптоэлектроника--светодиод--светофильтр--фотодиод
Аннотация: Практикум состоит из пяти лабораторных работ, выполнение которых позволит получить достаточно полное представление о свойствах гетероструктур, используемых в оптоэлектронике. В каждом описании к лабораторной работе дается краткое рассмотрение теории и технологии изготовления гетероструктур, что закрепляет знания студентов, полученные в лекционных курсах. Настоящий лабораторный практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлению 550700 для изучения курсов «Основы высоких технологий», «Физико-химические основы многослойных гетероструктур», «Конструирование компонентов и элементов микроэлектроники».
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

10.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 98065
Автор(ы) : Бублик В. Т., Щербачев К. Д.
Заглавие : Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур : Учебное пособие
Выходные данные : Москва: Издательский Дом МИСиС, 2001
Колич.характеристики :100 с
Примечания : Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Цена : Б.ц.
УДК : 548
ББК : 30.3
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): деформация--дифракционный метод--поверхностный слой--приборная структура--рентгеновское излучение
Аннотация: Содержание предлагаемого пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому в качестве спецкурса студентам специальности 071000 «Материаловедение и новые технологии». В нем кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассматриваемой в качестве основного инструментального метода. Показана связь деформаций в сложных многослойных структурах с измеряемыми рентгенодифрактометрическими методами характеристиками: средними деформациями, усредненными по толщине гетероструктуры, профилями деформации, кривизной. Пособие по этой тематике издается впервые. Необходимость издания определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует.
(для доступа требуется авторизация)

Найти похожие

 1-10    11-20   21-30  
 
Статистика
за 05.07.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)