Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=диаграмма фармера<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
IPRBooks-92706
92706

   
    Надежность технических систем и техногенный риск [Электронный ресурс] : практикум / сост. Е. Р. Абдулина. - Ставрополь : Северо-Кавказский федеральный университет, 2018. - 106 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 68.9

Кл.слова (ненормированные):
анализ риска -- диаграмма фармера -- марковский процесс -- надежность системы -- надёжность устройства -- резервированная система -- теория риска -- техническая система -- техногенный риск -- технологическое оборудование
Аннотация: Пособие составлено в соответствии с требованиями ФГОС ВО, в нем изложены основные теоретические аспекты, необходимые для выполнения всех практических работ по курсу, приведены примеры расчетов, задачи для самостоятельного решения, вопросы для контроля знаний, основная и дополнительная литература. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению подготовки 20.03.01 Техносферная безопасность.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Абдулина, Е. Р. \сост.\
Свободных экз. нет
Найти похожие

 
Статистика
за 03.06.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)