Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=сканирующая микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3

IPRBooks-29567

29567

Свириденок, А. И.
Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии [Электронный ресурс] : сборник докладов XI Международной конференции, Минск, 21–24 октября 2014 г. / Свириденок А. И. - Минск : Белорусская наука, 2014. - 188 с. - ISBN 978-985-08-1775-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

53.086

ББК 22.338я43

Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- сканирующая микроскопия
Аннотация: В сборнике представлены материалы ХI Международной конференции «Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии» (БелСЗМ-2014). Содержание докладов отражает последние достижения ученых Беларуси, России, Украины, Польши, Германии, США, Саудовской Аравии в развитии и применении методов сканирующей зондовой микроскопии для решения научных и технических задач, а также затрагивает фундаментальные и прикладные вопросы физики, химии и биологии. Адресуется научным сотрудникам, преподавателям, аспирантам и студентам физических, химических, медицинских, биологических и технических специальностей учреждений высшего образования.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Суханова, Т. Е.; Вылегжанина, М. Э.; Сантурян, Ю. Г.; Волков, А. Я.; Кутин, А. А.; Гофман, И. В.; Панарин, Е. Ф.; Толстихина, А. Л.; Гайнутдинов, Р. В.; Белугина, Н. В.; Трушин, О. С.; Куприянов, А. В.; Амиров, И. И.; Dzieciol, A.; Stelmachowski, J.; Nazaruk, P.; Rymuza, Z.; Abetkovskaia, S.; Pogotskaya, I.; Chizhik, S. A.; Баран, Л. В.; Ануфрик, С. С.; Игнатовский, М. И.; Сазонко, Г. Г.; Тарковский, В. В.; Кузнецова, Т. А.; Чижик, С. А.; Кравчук, А. С.; Ширяева, Т. И.; Судиловская, К. А.; Муравьева, Т. И.; Столярова, О. О.; Сачек, Б. Я.; Мезрин, А. М.; Загорский, Д. Л.; Сильванович, Д. А.; Ташлыков, И. С.; Белов, Н. А.; Ташлыкова-Бушкевич, И. И.; Яковенко, Ю. С.; Куликаускас, В. С.; Барайшук, С. М.; Шепелевич, В. Г.; Чумаков, А. С.; Горбачев, И. А.; Ермаков, А. В.; Ким, В. П.; Глуховской, Е. Г.; Башкиров, С. А.; Vylegzhanina, M. E.; Sukhanova, T. E.; Volkov, A. Ya.; Subbotina, L. I.; Svetlichnyi, V. M.; Губанова, Г. Н.; Кононова, С. В.; Лаврентьев, В. К.; Красковский, А. Н.; Гилевская, К. С.; Скопцов, Е. А.; Грачева, Е. А.; Куликовская, В. И.; Binhussain, M. A. A.; Мельникова, Г. Б.; Парибок, И. В.; Агабеков, В. Е.; Потапов, А. Л.; Иванова, Н. А.; Дайнеко, О. А.; Бен-Хусаин, М.; Карев, Б. Д.; Карев, Д. Б.; Константинова, Е. Э.; Цапаева, Н. Л.; Дрозд, Е. С.; Кужель, Н. С.; Мычко, М. Е.; Спиридонова, О. С.; Kukharenko, L. V.; Schimmel, Th.; Fuchs, H.; Barczewski, M.; Shman, T. V.; Tarasova, A. V.; Никитина, И. А.; Стародубцева, М. Н.; Грицук, А. И.; Стародубцев, И. Е.; Егоренков, Н. И.; Абетковская, С. О.; Лактюшина, Т. В.; Чикунов, В. В.; Билоконь, С. А.; Бондаренко, М. А.; Андриенко, В. А.; Бондаренко, Ю. Ю.; Яценко, И. В.; Брич, М. А.; Айзикович, С. М.; Кренев, Л. И.; Ханукаева, Д. Ю.; Калинин, С. В.; Филиппов, А. Н.; Иевлев, А. В.; Бузилов, А. С.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-62179

62179

Салахов, А. М.
Керамика. Исследование сырья, структура, свойства [Электронный ресурс] : учебное пособие / Салахов А. М. - Казань : Казанский национальный исследовательский технологический университет, 2013. - 316 с. - ISBN 978-5-7882-1480-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 35.41

Кл.слова (ненормированные):
исследование сырья -- керамика -- нанокомпозит -- нанопористый материал -- сканирующая микроскопия -- структура материала
Аннотация: Показана методика изучения гранулометрического и минерального составов сырья на базе различных месторождений. Проведены исследования с использованием современной сканирующей электронной микроскопии. Современными методами исследована поровая структура материалов. Показаны пути управления процессом структурообразования различных керамических материалов. Предназначено для студентов старших курсов, магистров и аспирантов по направлению подготовки 240100 «Химическая технология», преподавателей технологических специальностей вузов, а также для широкого круга инженерно-технических работников. Подготовлено на кафедре технологии неорганических веществ и материалов.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Салахова, Р. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-45104

45104

Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I [Электронный ресурс] : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2013 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Сканирующая зондовая микроскопия. Часть I / Филимонова Н. И. - 2013. - 134 с. - ISBN 978-5-7782-2158-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

621.385

ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектронный материал -- наноэлектронная структура -- сканирующая микроскопия -- зондовая микроскопия
Аннотация: Пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 222900 «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Экспериментальные методы исследования и метрология», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем», и студентов, обучающихся по направлению 210100 «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Кольцов, Б. Б.
Свободных экз. нет
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 03.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)