Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>K=физико-механическая характеристика<.>)

Общее количество найденных документов : 1

IPRBooks-64082

64082

Диагностика физико-механических характеристик наноматериалов. Часть 2 [Электронный ресурс] : учебное пособие для бакалавров технических вузов направлений подготовки 15.03.02, 27.03.05, 28.03.01, 28.03.02. - [Б. м.] : Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2015 - .Диагностика физико-механических характеристик наноматериалов. Часть 2 / Шубин И. Н. - 2015. - 80 с. - ISBN 978-5-8265-1468-9 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

620.22

ББК 35.50-78

Кл.слова (ненормированные):
диагностика -- физико-механическая характеристика -- углеродный наноматериал -- модифицированный материал -- полимерный материал -- углеродная нанотрубка
Аннотация: Рассмотрены вопросы методик и экспериментальной базы оценки физико-механических характеристик наноразмерных материалов, материалов, модифицированных углеродными наноматериалами (УНМ), рассмотрены методы диагностики свойств и области применения углеродного наноматериала на примере УНМ серии «Таунит». Приведён лабораторный практикум, отражающий способы количественного определения как физико-механических, так и физико-химических характеристик, как наноразмерных, так и модифицированных материалов. Предназначено для бакалавров технических вузов направлений подготовки 15.03.02, 27.03.05, 28.03.01, 28.03.02, изучающих основы нанотехнологий, диагностику наносистем, нанометрологию всех форм обучения. Представляет интерес для инженеров-конструкторов и технологов предприятий различных отраслей промышленности.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Блинов, С. В.; Пасько, Т. В.; Баранов, А. А.; Блохин, А. Н.
Свободных экз. нет
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 03.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)