Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=рентгеновский луч<.>)

Общее количество найденных документов : 6
Показаны документы с 1 по 6

IPRBooks-33636

33636

Расовский, М. Р.
История физики XX века [Электронный ресурс] : учебное пособие / Расовский М. Р. - Оренбург : Оренбургский государственный университет, ЭБС АСВ, 2014. - 182 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 22.3гя73

Кл.слова (ненормированные):
история физики -- постулат энштейна -- радиоактивность -- рентгеновский луч -- физическая лаборатория -- электрон
Аннотация: Учебное пособие «История физики XX века» предназначено как для студентов, изучающих по программе бакалавриата курс истории физики, так и для будущих магистров, в программе обучения которых стоит курс «История и методология физики». Оно могло бы быть полезным и преподавателям соответствующих дисциплин. Учебное пособие предназначено для студентов направлений подготовки 011200 Физика и 011800 Радиофизика.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Русинов, А. П.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-20072

20072

Анищик, В. М.
Дифракционный анализ [Электронный ресурс] : учебное пособие / Анищик В. М. - Минск : Вышэйшая школа, 2011. - 215 с. - ISBN 978-985-06-1834-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

539.26

ББК 22.344

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный анализ -- радиационное материаловедение -- рентгеновский луч -- рентгенотехника -- структурный анализ
Аннотация: Рассмотрены основные положения физики рентгеновских лучей, рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического применения для исследования кристаллов. Для студентов, специализирующихся в области физики и химии конденсированного состояния, металлофизики и радиационного материаловедения. Может быть полезно аспирантам, инженерам и исследователям.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Понарядов, В. В.; Углов, В. В.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-99170

99170

Чернышев, А. П.
Введение в физику твердого тела и нанофизику. Специальный курс физики. Конспект лекций [Электронный ресурс] : учебное пособие / Чернышев А. П. - Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет, 2019. - 88 с. - ISBN 978-5-7782-4048-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

539

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
квантовая механика -- квантовая оптика -- кристаллическая решетка -- нанофизика -- рентгеновский луч -- твердое тело -- физика
Аннотация: В настоящее время идет быстрое развитие элементной базы микроэлектроники. Элементная база изменяется на всех уровнях характерных размеров: от нанометровых элементов микроэлектроники, построенных с применением наночастиц, нанопроволоки и тонких пленок, до электронных компонентов с геометрическими размерами элементов порядка нескольких микрометров. Специальный курс физики позволяет познакомить студентов с основными физическими принципами, положенными в основу разработки и использования современной элементной базы микроэлектроники. Для этого студенты изучают соответствующие разделы квантовой механики, физики твердого тела и квантовой оптики. Настоящее пособие призвано помочь в изучении специального курса физики как на аудиторных занятиях, так и при самостоятельном изучении. Пособие предназначено для студентов МТФ, обучающихся по направлению 15.03.02 «Технологические машины и оборудование» и 15.03.05 «Конструкторско-технологическое обеспечение машиностроительных производств» дневной формы обучения.

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-99159

99159

Тарасова, Н. В.
Взаимодействие рентгеновских лучей с веществом [Электронный ресурс] : методические указания к практическим занятиям по дисциплинам «Методы структурного анализа в материаловедении наносистем», «Методы диагностики и испытаний в нанотехнологиях» / Тарасова Н. В. - Липецк : Липецкий государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2019. - 24 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

621.386

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- наносистема -- нанотехнология -- рентгеновский луч
Аннотация: Методические указания содержат теоретические сведения о физических основах процессов ослабления, поглощения и рассеяния рентгеновского излучения при взаимодействии с исследуемым веществом, примеры решения задач по расчету показателей ослабления и подбору селективно-поглощающих фильтров, задачи для самостоятельной работы. Предназначены для студентов профиля подготовки «Нанотехнологии и наноматериалы».

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-98165

98165

Векилова, Г. В.
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Векилова Г. В. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2009. - 145 с. - ISBN 978-5-87623-228-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

548

ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный метод -- кристаллография -- кристаллохимия -- микроскопический метод -- наноматериал -- рентгеновский луч -- электронная микроскопия
Аннотация: В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»).

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Иванов, А. Н.; Ягодкин, Ю. Д.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-98841

98841

Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия [Электронный ресурс] : курс лекций / Бублик В. Т. - Москва : Издательский Дом МИСиС, 2006. - 93 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
дефект -- дифракционная теория -- микроскопия -- рентгеновская топограмма -- рентгеновский луч -- электроника
Аннотация: В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций. Необходимо особо отменить, что подобного курса лекций, отвечающего современному уровню и объему данного раздела, в числе читаемых для указанных специальностей в настоящее время не имеется. Предназначено для студентов 4 и 5 курсов специальностей 071000, 200100 и направлений 5516, 5507, 5531, а также аспирантов специализирующихся в области физики и технологии роста кристаллов по специальностям: 01.24.10, 05.27.06 и 05.27.01.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Мильвидский, А. М.
Свободных экз. нет
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 28.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)