Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=дифрактометрия<.>)

Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3

IPRBooks-78478

78478

Блесман, А. И.
Теоретические основы методов исследования наноматериалов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Блесман А. И. - Омск : Омский государственный технический университет, 2017. - 78 с. - ISBN 978-5-8149-2506-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

620.2

ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- материаловедение -- метод -- микроскопия -- наноматериал -- рентген -- электроника
Аннотация: Представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов - растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие адресовано обучающимся по направлениям 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Даньшина, В. В.; Полонянкин, Д. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-68129

68129

Современные методы исследования оптических материалов. Часть 1 [Электронный ресурс] : учебное пособие, курс лекций. - [Б. м.] : Университет ИТМО, 2013 - .Современные методы исследования оптических материалов. Часть 1 / Золотарев В. М. - 2013. - 267 с. - ISBN 978-5-7782-2377-6 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 32.86

Кл.слова (ненормированные):
метод исследования -- оптический материал -- химический состав -- рентгеновская спектроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- метод ионизации -- фотоакустическая спектроскопия -- эмиссионная спектроскопия -- термогравиметрия
Аннотация: Курс лекций является первым учебно-методическим пособием по современным методам исследования оптических материалов. В нем кратко рассмотрены основы рентгеновских, оптических, спектральных и термических методов исследования оптических материалов, в том числе и наноматериалов. Дан анализ областей применения этих методов применительно к задачам, связанным с проведением исследований по разработке новых оптических материалов. Описание принципов действия методов сопровождается набором иллюстраций в формате 2D и 3D, которые позволяют представить данные, получаемые на приборах, в наглядной форме, удобной для восприятия многоплановой информации. Учебное пособие предназначено для магистров, обучающихся по направлению «Фотоника и оптоинформатика» по магистерской программе «Оптические материалы фотоники и оптоинформатики» при изучении дисциплин «Конденсированные лазерные среды», «Волноводная фотоника», «Материалы и технологии волоконной и интегральной оптики», «ИК-фотоника», «Спектроскопия и рефрактометрия», «Наноматериалы и нанотехнологии», «Стеклообразные полупроводники для фотоники», «Методы исследования материалов фотоники», «Органические оптические материалы и композиты», а также обучающихся по направлению «Оптотехника» при изучении дисциплин «Методы и приборы для научных исследований» и «Материалы лазерной оптоэлектроники».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Никоноров, Н. В.; Игнатьев, А. И.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-87446

87446

Нанокомпозиты на основе оксидов 3d-металлов: исследования морфологии и структуры методами электронной микроскопии и рентгеновской спектроскопии [Электронный ресурс] : монография / Яловега Г. Э. - Ростов-на-Дону, Таганрог : Издательство Южного федерального университета, 2017. - 156 с. - ISBN 978-5-9275-2415-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

539.2

ББК 30.36

Кл.слова (ненормированные):
кремниевая матрица -- металлооксидная наноструктура -- нанокомпозит -- нанокомпозитная пленка -- оксид 3d-металла -- рентгеновская дифрактометрия -- рентгеновская спектроскопия -- углеродная матрица -- электронная микроскопия
Аннотация: Монография посвящена результатам исследования морфологии, структуры и физико-химических свойств нанокомпозитных материалов на основе оксидов 3d-металлов с углеродной и кремниевой матрицами. Адресована специалистам, работающим в области рентгеновской спектроскопии, материаловедения и смежных специальностей. Может быть полезна аспирантам и студентам, обучающимся по направлениям «Физика», «Нанотехнологии и микросистемная техника», «Материаловедение». Результаты исследований, приведенные в монографии, были получены при поддержке гранта Южного федерального университета ВнГр-07/2017-30 и гранта Министерства образования и науки Российской Федерации №11.2432.2014/K.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Яловега, Г. Э.; Шматко, В. А.; Фуник, А. О.; Невзорова, Н. М.
Свободных экз. нет
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 26.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)