Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска
Электронный каталог
Картотека журнальных статей
Систематический имидж-каталог
Авторефераты диссертаций
Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ
ЭБС IPRBooks
ЭБС Консультант студента
ЭБС Юрайт
Диссертации, защищенные в СПХФУ
Журнальный фонд СПХФУ
Библиотечный фонд техникума
ВКР
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=рентгенотехника<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
IPRBooks-20072
20072

    Анищик, В. М.
    Дифракционный анализ [Электронный ресурс] : учебное пособие / Анищик В. М. - Минск : Вышэйшая школа, 2011. - 215 с. - ISBN 978-985-06-1834-4 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
539.26
ББК 22.344

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный анализ -- радиационное материаловедение -- рентгеновский луч -- рентгенотехника -- структурный анализ
Аннотация: Рассмотрены основные положения физики рентгеновских лучей, рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического применения для исследования кристаллов. Для студентов, специализирующихся в области физики и химии конденсированного состояния, металлофизики и радиационного материаловедения. Может быть полезно аспирантам, инженерам и исследователям.

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Понарядов, В. В.; Углов, В. В.
Свободных экз. нет
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
Статистика обращений
Статистика
за 29.06.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)