Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A
Главная ИРБИС64+ Упрощенный режим Описание
Авторизация
Логин
Пароль
 

Базы данных


ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=внутрисхемный тестер<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
IPRBooks-93252
93252

   
    Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов [Электронный ресурс] : практикум / Барабанов В. Ф. - Воронеж : Воронежский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2019. - 75 с. - ISBN 978-5-7731-0778-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:
УДК
ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
внутрисхемный тестер -- программа -- цифровая микросхема -- электронное устройство -- электронный компонент
Аннотация: В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины, комплексы, системы и сети») при изучении дисциплин «Конструкторско-технологическое обеспечение производства ЭВМ», «Автоматизация проектирования вычислительных систем», «Электротехника и электроника».

(для доступа требуется авторизация)


Доп.точки доступа:
Барабанов, В. Ф.; Тюрин, С. В.; Гребенникова, Н. И.; Акинина, Ю. С.
Свободных экз. нет
Найти похожие

 
Статистика
за 30.06.2024
Число запросов 0
Число посетителей 0
Число заказов 0
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)