Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=исследование материалов<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

IPRBooks-79646

79646

Латышенко, К. П.
Методы исследований процессов и материалов [Электронный ресурс] : практикум / Латышенко К. П. - Саратов : Вузовское образование, 2019. - 197 с. - ISBN 978-5-4487-0400-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

543

ББК 30.10

Кл.слова (ненормированные):
исследование материалов -- исследование процессов -- метрологическая характеристика -- неразрушающий контроль
Аннотация: В практикуме рассматриваются физические методы неразрушающего контроля, методы и средства исследований процессов и материалов, определяются их метрологические характеристики, правила обработки результатов измерений. Предназначен студентам, изучающим курсы «Методы исследования процессов и материалов», «Технологические измерения и приборы», «Методы и средства измерений, испытаний и контроля», «Автоматизация аналитического контроля».

(для доступа требуется авторизация)

Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-12728

12728

Кларк, Э. Р.
Микроскопические методы исследования материалов [Электронный ресурс] : монография / Кларк Э. Р. - Москва : Техносфера, 2007. - 376 с. - ISBN 978-5-94836-121-5 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

620

ББК 30

Кл.слова (ненормированные):
исследование материалов -- компьютерная микроскопия -- микроскопические методы -- монография
Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Эберхард, К. Н.
Свободных экз. нет
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 29.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)