Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>K=отраженный свет<.>)

Общее количество найденных документов : 1

IPRBooks-65814

65814

Введение в прикладную эллипсометрию. Часть 3. Эллипсометрия проходящего света [Электронный ресурс] : учебное пособие по курсу «Оптико-физические измерения». - [Б. м.] : Университет ИТМО, 2014 - .Введение в прикладную эллипсометрию. Часть 3. Эллипсометрия проходящего света / Скалецкая И. Е. - 2014. - 106 с. - ISBN 978-5-906332-27-1 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

535

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия -- проходящий свет -- отраженный свет -- экспериментальная апробация -- слоистая система
Аннотация: Учебное пособие рассчитано на студентов и аспирантов оптических специальностей высшей школы по направлениям «Техническая физика» (223200), «Лазерная техника и лазерные технологии» (200500) и имеет следующие практические цели: 1) ознакомление с принципами экспериментальной работы на приборах ручного управления типа ноль-эллипсометров серии лазерных эллипсофотометров марки ЛЭФ-2, 3М, начиная с методов юстировки и калибровки до измерений и обработки первичных данных; 2) пополнение банка данных измерениями новых оптических систем в проходящем и отражённом свете всевозможных веществ и изделий – объектов измерений (ОИ); 3) освоение методик прецизионных измерений амплитудно-фазовых (Ψφ , Δφ) характеристик поля световой волны после взаимодействия с исследуемым веществом при косом падении (00 < φ <900) методами их многоугловых развёрток; 4) ознакомление с программным обеспечением компьютерной обработки первичной измерительной информации и модельных оценок косвенно измеряемых оптических параметров (d, n, k) исследуемых материалов на примере тест систем ОИ. В тест-системах пособия рассмотрены аналитические свойства решений основного уравнения эллипсометрии (ОУЭ) Друде, вопросы их математической корректности и физической адекватности свойствам ОИ. Во главу угла логического рассмотрения положено явление эффекта Брюстера и описывающие его законы.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Прокопенко, В. Т.; Скалецкий, Е. К.
Свободных экз. нет
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 30.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)