Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>A=Блесман, А. И.$<.>)

Общее количество найденных документов : 1

IPRBooks-78478

78478

Блесман, А. И.
Теоретические основы методов исследования наноматериалов [Электронный ресурс] : учебное пособие / Блесман А. И. - Омск : Омский государственный технический университет, 2017. - 78 с. - ISBN 978-5-8149-2506-0 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

620.2

ББК 30.3

Кл.слова (ненормированные):
дифрактометрия -- исследование -- материаловедение -- метод -- микроскопия -- наноматериал -- рентген -- электроника
Аннотация: Представлены теоретические основы методов исследования наноматериалов - растровой электронной микроскопии и рентгеновской дифрактометрии. Изложены рекомендации по выполнению заданий в ходе учебной, производственной и преддипломной практики. Учебное пособие адресовано обучающимся по направлениям 28.03.02, 28.04.02 «Наноинженерия».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Даньшина, В. В.; Полонянкин, Д. А.
Свободных экз. нет
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 26.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)