Фундаментальная библиотека ФГБОУ ВО СПХФУ Минздрава России

Версия для слабовидящих: Вкл Выкл Изображения: Вкл Выкл Размер шрифта: A A A Цветовая схема: A A A A

Главная

ИРБИС64+

Упрощенный режим

Описание

Базы данных

ЭБС IPRBooks- результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Картотека журнальных статей

Систематический имидж-каталог

Авторефераты диссертаций

Учебники и учебно-методические пособия СПХФУ

ЭБС IPRBooks

ЭБС Консультант студента

ЭБС Юрайт

Диссертации, защищенные в СПХФУ

Журнальный фонд СПХФУ

Библиотечный фонд техникума

ВКР

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Величко, А. А.$<.>)

Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4

IPRBooks-69545

69545

Филимонова, Н. И.
Методы электронной микроскопии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Филимонова Н. И. - Новосибирск : Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016. - 61 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
линза -- микроскоп -- пэм -- сэм -- электронная микроскопия -- электронный пучок
Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной микроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов электронной микроскопии определения физических и структурных свойств материалов. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Величко, А. А.; Фадеева, Н. Е.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-69546

69546

Филимонова, Н. И.
Методы электронной спектроскопии [Электронный ресурс] : учебное пособие / Филимонова Н. И. - Новосибирск : Сибирский государственный университет телекоммуникаций и информатики, 2016. - 68 с. - Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
спектрометр -- твердое тело -- электрон -- электронная спектроскопия -- энергетическая потеря -- эос
Аннотация: Учебное пособие «Методы электронной спектроскопии» содержит подробное описание физических основ и экспериментальных методов определения физических и структурных свойств материалов методами электронной спектроскопии. Рассматриваются вопросы применения данных методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», профиль «Интегральная электроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы диагностики и анализа микро и наноструктур».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Величко, А. А.; Фадеева, Н. Е.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-45125

45125

Величко, А. А.
Определение толщины эпитаксиальных слоев и ширины запрещенной зоны полупроводников методом ИК Фурье-спектрометрии [Электронный ресурс] : учебно-методическое пособие / Величко А. А. - Новосибирск : Новосибирский государственный технический университет, 2012. - 28 с. - ISBN 978-5-7782-1924-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

535.33

ББК 22.3

Кл.слова (ненормированные):
запрещенная зона -- определение толщины -- полупроводник -- фурье-спектрометр -- ширина зоны -- эпитаксиальный слой
Аннотация: Дано краткое описание способа измерения ширины запрещенной зоны и толщины гетероэпитаксиальных узкозонных полупроводников методом определения спектральных зависимостей коэффициентов поглощения и отражения на ИК Фурье-спектрометре. В работе кратко изложена теория механизмов поглощения и отражения в полупроводниках. Дано описание ИК Фурье- спектрометра Nicolet 6700, изложена методика проведения эксперимента и обработки экспериментальных данных. Приведены контрольные вопросы и список рекомендованной литературы.

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Кольцов, Б. Б.
Свободных экз. нет
Найти похожие

IPRBooks-45105

45105

Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II [Электронный ресурс] : учебное пособие. - [Б. м.] : Новосибирский государственный технический университет, 2014 - .Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур. Часть II / Величко А. А. - 2014. - 227 с. - ISBN 978-5-7782-2534-3 : Б. ц.
Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks.
Режим доcтупа:

УДК

621.382

ББК 32.85

Кл.слова (ненормированные):
метод исследования -- микроэлектронный материал -- наноэлектронный материал -- электронная спектроскопия
Аннотация: Учебное пособие содержит подробное описание физических основ и экспериментальной техники методов электронной спектроскопии, микроскопии и методов исследования электрофизических параметров наноэлектронных материалов и структур. Рассматриваются вопросы применения этих методов в современной науке, технике и технологии. Пособие предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнологии и микросистемная техника» для дисциплин «Методы анализа и контроля наноструктурированных материалов и систем», «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов», «Методы диагностики и анализа микро- и наносистем» и студентов, обучающихся по направлению «Микроэлектроника и наноэлектроника» для дисциплины «Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных структур».

(для доступа требуется авторизация)

Доп.точки доступа:
Филимонова, Н. И.
Свободных экз. нет
Найти похожие

Тематический навигатор

Статистика обращений

Статистика за 29.06.2024
Число запросов	0
Число посетителей	0
Число заказов	0

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)