Латышенко, К. П. Методы исследований процессов и материалов [Электронный ресурс] : практикум / Латышенко К. П. - Саратов : Вузовское образование, 2019. - 197 с. - ISBN 978-5-4487-0400-0 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): исследование материалов -- исследование процессов -- метрологическая характеристика -- неразрушающий контроль Аннотация: В практикуме рассматриваются физические методы неразрушающего контроля, методы и средства исследований процессов и материалов, определяются их метрологические характеристики, правила обработки результатов измерений. Предназначен студентам, изучающим курсы «Методы исследования процессов и материалов», «Технологические измерения и приборы», «Методы и средства измерений, испытаний и контроля», «Автоматизация аналитического контроля». Свободных экз. нет |
Кларк, Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов [Электронный ресурс] : монография / Кларк Э. Р. - Москва : Техносфера, 2007. - 376 с. - ISBN 978-5-94836-121-5 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): исследование материалов -- компьютерная микроскопия -- микроскопические методы -- монография Аннотация: За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам. Доп.точки доступа: Эберхард, К. Н. Свободных экз. нет |