Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии [Электронный ресурс] : монография / Моргунов Р. Б. - Тамбов : Тамбовский государственный технический университет, ЭБС АСВ, 2018. - 186 с. - ISBN 978-5-8265-1881-6 : Б. ц. Книга находится в Премиум-версии ЭБС IPRbooks. Режим доcтупа:
Кл.слова (ненормированные): атомно-силовая микроскопия -- зондовый микроскоп -- калибровочная решётка -- магнетизм -- магнитно-силовая микроскопия -- магнитный кантилевер -- метод биттера -- острие иглы -- сканируюший микроскоп -- стенка блоха Аннотация: Изложены современные представления об исследовании поверхности твёрдых тел и органических объектов методом зондовой микроскопии. Рассмотрен принцип работы атомно-силовой микроскопии в различных режимах сканирования. Представлены возможности использования магнитно-силовой микроскопии в исследовании доменной структуры ферромагнетиков и тонких плёнок, объектов полупроводниковой спинтроники. Представляет интерес для научных сотрудников, работающих в области физики поверхности, физики твёрдого тела и магнетизма, а также для студентов и аспирантов физических и инженерных специальностей университетов при изучении спецкурсов физики наносистем. Доп.точки доступа: Моргунов, Р. Б.; Коплак, О. В.; Безверхний, А. И.; Дмитриев, О. С. Свободных экз. нет |